Приложение S93070xB для измерения модуляционных искажений для анализаторов цепей серии PNA-X
Приложение S93070xB для измерения модуляционных искажений для анализаторов цепей серии PNA-XИзмерения модуля вектора ошибки (EVM), коэффициента мощности шума (NPR) и коэффициента мощности в соседнем канале (ACPR) с помощью анализаторов цепей серии PNA-X обеспечивают детальное определение характеристик устройств.
Использование методов коррекции погрешности измерений векторных анализаторов цепей и функции компенсации влияния измерительных трактов для анализа модуляции.
Исключение составляющих нелинейных искажений и аддитивного шума из входного сигнала.
Широкая полоса измерений, ограниченная только полосой модуляции используемого векторного генератора сигналов.
Широкий динамический диапазон и минимальное значение остаточного EVM измерительной системы/
Упрощение конфигурации испытательной установки для тестирования устройств с высоким уровнем мощности и при использовании матричных коммутаторов для измерений EVM, ACPR и NPR.
Модуляционные искажения: быстрые и точные измерения EVM, ACPR и NPR
Приложение S93070xB для измерения модуляционных искажений при использовании совместно с векторным анализатором цепей (ВАЦ) серии PNA-X и векторным генератором сигналов (ВГС) позволяет измерять характеристики нелинейного поведения усилителей мощности в условиях подачи входного измерительного сигнала с широкополосной модуляцией. Новый метод измерений в частотной области обеспечивает более низкое значение остаточного EVM измерительной системы иповышение скорости измерений модуля вектора ошибки. Используемая в ВАЦ техника векторной коррекции погрешностей результатов измерений обеспечивает точный перенос опорной плоскости ВГС иВАЦ кплоскостиподключения испытуемого устройства (ИС). Врезультатепользователи получают высочайшую точность воспроизведения сигналаи качество измерениймодулированного сигнала в ВЧ-диапазоне идиапазоне миллиметровых длин волн.
Анализатор цепей PNA-X, оснащенный новым приложением для измерения модуляционных искажений, позволяет выполнить полный комплекс измерений параметров усилителей, что ранее требовало использования двух отдельных измерительных установок или сложного идорогостоящего матричного коммутатора, ухудшающего характеристики измерительной системы. Этопомогает ускорить тестирование устройств на этапе НИОКР и в ходе проверки правильности разработки за счет сокращения циклов проектирования, а также способствует увеличению выпуска продукции на этапе производства.
В случае измерения параметров устройств на полупроводниковой пластине выполнение однократного контактирования измерительных зондов к пластине позволяет увеличить производительность и проводить измерения, которые ранее были заруднительны. Обеспечение однократного контакта измерительных зондов к испытуемому устройству способствует уменьшению износа контактных площадок и повышению качества готовой продукции.
Приложение дляизмерения модуляционных искажений обеспечивает быстрые, точные и воспроизводимые измерения EVM, NPR, ACPR по сравнению с общепринятым подходом с использованием анализаторов сигналов.