Разработанная серия пирамидальных проб-карт серии SiP/SoC P, специально предназначенных для проведения измерений на системах на кристалле (SoC). Они позволяют работать с большими поверхностями пластины, обеспечивая при этом постоянство контакта, имеют отличные параметры проводимости и, кроме того, имеют долгий срок службы. Проб-карты сконструированы для применения как на контактных столбиках, так и на выпуклостях соединённых контактов по методу "flip-chip". Данная серия SiP/SoC P позволяет проводить скорстное тестирование большеформатных интегральных схем с выборкой по кристаллам.
На нашем сайте вы можете совершать покупки с помощью безналичной оплаты. Для физических лиц мы предлагаем удобный сервис для обработки всех платежей. Если вы представляете юридическое лицо, у нас есть возможность оформления счета с учетом НДС. Подробности можно найти на странице «Условия оплаты».
Мы осуществляем доставку грузов с помощью нескольких надежных транспортных компаний. Узнать больше о доступных вариантах доставки можно в разделе «Доставка»
Вы можете связаться с нашим менеджером по телефону +7 (800) 707-44-73 или отправить заявку на электронную почту sales@spegroup.ru.
