Системы для измерений на подложке
Оптимальная конфигурация, установка и сервисная поддержка для обеспечения высокой точности измерений
Keysight Technologies и Cascade Microtech
Чтобы сформировать систему, отвечающую этим задачам, вам нужно определить набор необходимых измерительных устройств, зондовых измерительных установок для работы с пластинами, радиочастотных зондов и зондов для работы с постоянным током, а также программного обеспечения от различных поставщиков, приобрести все это оборудование и программы, а затем проверить их совместную работу на месте, еще до того, как можно будет протестировать первый прибор. Могут пройти недели и даже месяцы, прежде чем вы, выполнив измерения, впервые будете уверены в корреляции данных и точности измерений на разных участках.
Компании Keysight Technologies и Cascade Microtech предлагают полностью интегрированные системы для измерений на компонентах и определения характеристик приборов. Зондовые установки для измерения электрических параметров полупроводниковых пластин от компании Cascade Microtech, микроволновые зонды и зонды с подачей постоянного напряжения смещения, а также средства калибровки в сочетании с испытательным оборудованием и программным обеспечением для измерений и анализа от компании Keysight позволяют выполнять обширные программы измерений на всех ваших компонентах.
Эти решения поставляются в различных вариантах исполнения — от полностью интегрированной новой системы с полуавтоматической или ручной зондовой установкой до специализированного инструментального дополнения к имеющимся зондовым установкам. Для определения характеристик приборов к имеющейся системе для измерения электрических параметров полупроводниковых пластин можно также добавить новую программную платформу для измерений WaferPro-XP от компании Keysight.
СКАЧАТЬ ПРОДОЛЖЕНИЕ СТАТЬИ
Keysight Technologies и Cascade Microtech
Точность и воспроизводимость измерений на подложке имеет огромную важность при моделировании приборов, разработке технологий и технологических процессов, определении их технических характеристик, мониторинге технологических процессов, определении технических характеристик компонентов и производстве опытных образцов. Полупроводниковые технологии продолжают развиваться, сроки выхода изделий на рынок сокращаются, поэтому возрастает потребность в повышении точности измерений. Эти задачи требуют создания интегрированного решения, которое позволяет быстро и точно провести тестирование приборов и компонентов при постоянном токе и высокой частоте.
Чтобы сформировать систему, отвечающую этим задачам, вам нужно определить набор необходимых измерительных устройств, зондовых измерительных установок для работы с пластинами, радиочастотных зондов и зондов для работы с постоянным током, а также программного обеспечения от различных поставщиков, приобрести все это оборудование и программы, а затем проверить их совместную работу на месте, еще до того, как можно будет протестировать первый прибор. Могут пройти недели и даже месяцы, прежде чем вы, выполнив измерения, впервые будете уверены в корреляции данных и точности измерений на разных участках.
Компании Keysight Technologies и Cascade Microtech предлагают полностью интегрированные системы для измерений на компонентах и определения характеристик приборов. Зондовые установки для измерения электрических параметров полупроводниковых пластин от компании Cascade Microtech, микроволновые зонды и зонды с подачей постоянного напряжения смещения, а также средства калибровки в сочетании с испытательным оборудованием и программным обеспечением для измерений и анализа от компании Keysight позволяют выполнять обширные программы измерений на всех ваших компонентах.
Эти решения поставляются в различных вариантах исполнения — от полностью интегрированной новой системы с полуавтоматической или ручной зондовой установкой до специализированного инструментального дополнения к имеющимся зондовым установкам. Для определения характеристик приборов к имеющейся системе для измерения электрических параметров полупроводниковых пластин можно также добавить новую программную платформу для измерений WaferPro-XP от компании Keysight.
СКАЧАТЬ ПРОДОЛЖЕНИЕ СТАТЬИ
