Модульные решения в форматах PXI и AXIe
Уменьшение размеров тестовых систем и рост производительности испытаний
По мере усложнения кремниевых пластин, беспроводных устройств и систем, применяемых в военной технике, многопортовый векторный анализ цепей с использованием S-параметров становится незаменимым средством тестирования. Всего несколько лет назад заказчикам чаще всего требовались векторные анализаторы цепей с 4 портами. Затем на рынке появились устройства следующего поколения, которые требовали измерений по 8 портам, и некоторые производители измерительного оборудования отреагировали на нужды заказчиков. Эта тенденция сохраняется, и для тестирования следующего поколения устройств будут нужны 16-портовые, а в скором будущем – и в 32-портовые измерительные приборы.Как уменьшить размеры испытательных систем для векторного анализа цепей, при этом повысив их производительность и функциональные возможности
Многие предприятия стремятся уменьшить количество контрольно-измерительных приборов, расширяя при этом их функциональные возможности. Решение этой задачи является одним из условий удовлетворения более глобальной потребности – снижения общих затрат на тестирование.
Ориентируясь на долгосрочные тенденции, можно выделить три наиболее актуальные потребности:
– Необходимость тестирования чрезвычайно сложных устройств за более короткое время без ущерба для точности измерений.
– Необходимость тестирования нескольких устройств при помощи одной контрольно-измерительной станции, при увеличении общего количества тестируемых устройств.
– Необходимость уменьшения размеров контрольно-измерительных станций, используемых при тестировании нескольких полупроводниковых пластин или сложных устройств .
Измерительные системы на базе модульных приборов
Многие производители систем реализуют многофункциональные системы тестирования на базе одиночного шасси в формате PXI. По мере заполнения слотов шасси, все меньше слотов остается для векторного анализа цепей. В таком случае идеальным решением является векторный анализатор цепей в формате PXI, занимающий всего один слот в шасси. Для производственных линий или фабрик по производству полупроводниковых пластин характерна возрастающая потребность одно - временного тестирования нескольких устройств или пластин на одной контрольно-измерительной станции. В качестве примеров можно привести мобильные телефоны, военные радиостанции и кремниевые пластины с увеличивающейся плотностью элементов. В такой ситуации одно из ключевых требований – снижение габаритных размеров системы тестирования. Возможность установить в одно шасси несколько 2-портовых векторных анализаторов цепей в формате PXI обеспечивает фантастическую экономию пространства по сравнению с использованием нескольких анализаторов в настольном исполнении, встраиваемых в производственную линию или располагаемых рядом с зондовой станцией (Рис. 1). Поскольку конструкция устройств непрерывно усложняется, возрастает и потребность в устройствах с 8, 16 и большим количеством портов, которые позволят без затруднений определять полный набор S-параметров для устройств с большим количеством портов. Примерами таких устройств могут служить высокочастотные модули сопряжения, антенны с многоканальными входами/выходами (MIMO), автоматизированные антенны и приемопередающие модули с фазированной антенной решеткой. Полное определение характеристик модулей сопряжения, используемых в мобильных телефонах, требует измерения S-параметров по 10 и более портам. Кроме того, для обеспечения точных результатов необходима полная коррекция по N-портам.
Инженерам, проектирующим антенны с многоканальными входами/выходами (MIMO), необходимо исследовать коэффициент связи антенн, который может повлиять на работу системы в целом. Эта задача может быть решена путем измерений для каждого канала, что влечет за собой необходимость одновременного измерения параметра S21 для всех комбинаций передающей и приемной антенн. В этом случае для обеспечения надлежащей точности также потребуется полная коррекция по N-портам.
Независимо от того, требуется ли одновременное тестирование нескольких конфигураций или необходимо определить характеристики многопортового устройства, процесс конфигурирования должен быть простым, с предусмотренной возможностью изменения конфигурации путем программной реализации векторных анализаторов цепей с N портами на базе приборов, установленных в одном шасси. Например, одно шасси, содержащее восемь 2-портовых векторных анализаторов цепей, может быть сконфигурировано как четыре 4-портовых векторных анализатора, два 8-портовых или один 16-портовый векторный анализатор, при этом возможно множество других комбинаций.
Содержание
- Уменьшение размеров тестовых систем и рост производительности испытаний
- Повышение скорости и повторяемости измерений при тестировании ВЧ-усилителей мощности за счет использования функций отслеживания огибающей и цифровых предыскажений
- Типовые решения в форматах PXI и AXIe
- Шасси и контроллеры в формате PXI
- Модули сбора данных в формате PXI
- Модули дискретного ввода/вывода в формате PXI
- Цифровые мультиметры в формате PXI
- Дигитайзеры в формате PXI
- Анализаторы сигналов в формате PXI
- Генераторы сигналов в формате PXI
- Модули коммутации в формате PXI
- Векторные анализаторы цепей в формате PXI
- Генераторы сигналов произвольной формы в формате PXI
- Дополнительные высокочастотные ВЧ-/СВЧ-модули в формате PXI
- Модульные продукты в формате AXIe
- Программное обеспечение и средства программирования
- Комплекты для тестирования беспроводных устройств