Семинар «Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов», ИЯФ СО РАН, 19-20 марта
Институт Ядерной Физики СО РАН совместно с группой компаний «Научное оборудование» и компанией «Мелитэк» приглашает Вас принять участие в научно-практическом семинаре на тему «Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов».
Место проведения: ИЯФ СО РАН, пр. Ак. Лаврентьева, 11
Даты: 19 и 20 марта 2019 года
Для участия просим вас зарегистрироваться до 18 марта 2019 года
Ссылка для регистрации: https://indico.inp.nsk.su/event/18/registration/register#/register
В программе предусмотрен мастер-класс для индивидуальной работы с Вашими образцами!
19 марта
Конференц-зал, главный корпус, 4 этаж
|
Начало |
Наименование доклада |
Докладчик |
|
9-30 |
Регистрация участников |
|
|
10-00 |
Приветственное слово Гольденберг Борис Григорьевич, сотрудник проектного офиса СКИФ, к.т.н. Высоцкая Александра Евгеньевна, заместитель директора ГК «Научное оборудование» |
|
|
10-10 |
Новые портативные спектрометры серии S1 TITAN, TRACER 5i и EOS для быстрого анализа различных материалов. «Bruker» (Германия) |
Семенова Юлия |
|
10-40 |
Модельный ряд рентгенофлуоресцентных спектрометров компании «Bruker» (Германия) |
Александр Шевчуков |
|
11-20 |
Кофе-брейк |
|
|
11-40 |
Современные оптико-эмиссионные анализаторы сталей и сплавов производства компании «Bruker» (Германия) |
Семенова Юлия |
|
12-00 |
Эффективные решения в области механических испытаний на базе универсальных машин компании «Walter + Bai AG» (Швейцария). Конструктивные особенности модельного ряда и его применение. |
|
|
12-30 |
Модельный ряд твердомеров компании Emco-Test Prufmaschinen GmbH (Австрия). Современные технологии автоматического измерения твердости. |
|
|
13-00 |
Обед |
|
|
14-00 |
Модельный ряд микроскопов Olympus (Япония) для материаловедения. |
Калинченко Антон |
|
14-45 |
Обзор современного оборудования для пробоподготовки компании «Struers» (Дания) |
|
|
15-20 до 16-00 |
Оборудование для исследования физических свойств поверхности компании Nanovea (США) |
|
20 марта
Конференц. зал, главный корпус, 4 этаж
|
Начало |
Наименование доклада |
Докладчик |
|
9-30 |
Регистрация участников |
|
|
10-00 |
Приветственное слово Гольденберг Борис Григорьевич, сотрудник проектного офиса СКИФ, к.т.н. Высоцкая Александра Евгеньевна, заместитель директора ГК «Научное оборудование» |
|
|
10-10 |
Рентгеновские дифрактометры компании «Bruker». |
Голованов Денис |
|
11-00 |
Оборудование для рентгенографии и компьютерной томографии NSI (США). Решения для металлургии и геологии |
Семенова Юлия |
|
11-20 |
Кофе-брейк |
|
|
11-40 |
Сканирующие электронные микроскопы для работы с любыми образцами, компания «Thermo Fisher Scientific» |
Ханин Виталий |
|
12-10 |
Универсальные и продвинутые двухлучевые системы |
|
|
12-40 |
Просвечивающие электронные микроскопы сверхвысокого разрешения |
|
|
13-20 |
Дополнительное оборудование и пробоподготовка для электронной микроскопии |
|
Мастер-класс
«Практическое применение. Индивидуальная работа с Вашими образцами».
19-20 марта 2019 года, с 10-00 до 17-00
331 кабинет, переход главного корпуса, 3 этаж
|
Оборудование для индивидуальной работы с Вашими образцами |
|
|
S1 Titan |
Портативный рентгенофлуоресцентный спектрометр компании «Bruker», Германия |
|
LEXT |
Сканирующий лазерный микроскоп компании Olympus, Япония |
|
ВХ53 |
Оптический микроскоп компании Olympus, Япония |
|
Демонстрационное оборудование |
|
|
Tegramin 30 |
Шлифовально-полировальный станок компании Struers, Дания |
Участие в мастер классе по предварительной записи при регистрации.
Рекомендованное количество образцов для анализа: не более 2-х.
Участие бесплатное, количество участников ограничено.
Представленные модели оборудования для участия в мастер-классе доступны оба дня.
Имеется возможность направить образцы в демо-зал для исследований с предоставлением индивидуального отчета (пробоподготовка, испытания, анализ)/
Для участия просим вас зарегистрироваться до 18 марта 2019 года
Ссылка для регистрации: https://indico.inp.nsk.su/event/18/registration/register#/register
Если у Вас есть вопросы или пожелания к содержанию семинара, докладчикам, просим обращаться:
Гольденберг Борис Григорьевич: +7 (913) 719-45-37, goldenberg@ngs.ru
Хомиченко Наталья: +7 (923) 253-88-69, khomichenko@spegroup.ru
Надеемся увидеть Вас в числе гостей.
Будем рады направить дополнительную информацию и ответить на любые интересующие Вас вопросы.
