Основы измерений параметров материалов и устройств, Новосибирск
Основы измерений параметров материалов и устройств — Программа семинара | |
---|---|
10:00-10:45 | Тема 1: Тестирование параметров материалов: проблемы и решения |
10:45-11:15 | Демонстрация работы приборов, вопросы и ответы |
11:15-12:00 | Тема 2: Перспективные решения для измерений импеданса |
12:00-12:45 | Демонстрация работы приборов, вопросы и ответы, перерыв на чай/кофе |
12:45-13:30 | Тема 3: Тестирование параметров материалов и устройств в диапазоне частот до 1,5 ТГц |
13:30-14:00 | Демонстрация работы приборов, вопросы и ответы, перерыв на обед |
14:45-15:30 | Тема 4: Тестирование электрических параметров устройств на основе GaN и SiC с помощью анализатора мощных устройств/характериографа Keysight серии B1505A |
15:30-16:00 | Демонстрация работы приборов, вопросы и ответы |
Краткое содержание докладов смотрите на сайте:
Ждем Вас на семинаре Keysight по основам измерений параметров материалов и устройств из серии HOTSPOTS 21 сентября 2017 г. с 10:00 до 16:00.
Для участия в мероприятии требуется предварительная регистрация. Пожалуйста, заполните форму
Вы также можете зарегистрироваться только на интересующие вас темы. Для этого, пожалуйста, укажите в регистрационной форме, на какие темы вы планируете прийти.
В ответ на Вашу регистрационную форму мы направим Вам подтверждение регистрации.
Место проведения и время проведения:21 сентября 2017 с 10:00 до 16:00
Новосибирск, Институт физики полупроводников, Лаврентьева 13, конференц-зал
Контактное лицо: Кузьмина Мария, +7 (383) 330-82-95, sales@spegroup.ru
Надеемся увидеть Вас в числе гостей.
Будем рады направить дополнительную информацию и ответить на любые интересующие Вас вопросы.