TH2851-130 — высокоточный анализатор импеданса до 130 МГц

TH2851-130 — флагманская модель серии анализаторов импеданса TH2851, предназначенная для высокоточных измерений параметров электронных компонентов, полупроводниковых приборов, магнитных и диэлектрических материалов в диапазоне частот от 10 Гц до 130 МГц. Благодаря расширенному частотному диапазону прибор позволяет исследовать характеристики компонентов и материалов в области высоких и сверхвысоких частот, что особенно востребовано при разработке телекоммуникационного оборудования, RF-устройств, силовой электроники и современных электронных компонентов.

Анализатор построен на основе технологии автоматического балансного моста и четырехпарной схемы подключения, обеспечивающей высокую точность, стабильность и повторяемость результатов измерений. Типовая погрешность измерений достигает ±0,045%, а минимальное время тестирования составляет всего 5 мс.

Основные возможности

• Диапазон тестовых частот от 10 Гц до 130 МГц.
• Высокая точность измерений: основная погрешность до ±0,08% (типовое значение ±0,045%).
• Минимальное время измерения до 5 мс.
• Широкий диапазон измерения импеданса от миллиомных значений до десятков МОм.
• Встроенный источник постоянного смещения до ±40 В или ±100 мА.
• Четырехпарная измерительная схема (Four-Terminal Pair) для повышения точности измерений на высоких частотах.
• Поддержка анализа эквивалентных схем и моделирования параметров компонентов.
• Измерение импеданса (Z), проводимости (Y), активного и реактивного сопротивления (R/X), индуктивности (L), ёмкости (C), добротности (Q), тангенса угла потерь (D), фазового угла, напряжения и тока переменного и постоянного тока.
• Поддержка измерения сопротивления постоянному току (DCR).
• Три режима работы: точечные измерения, сканирование по списку и графическое сканирование.
• Многопараметрическое сканирование до 1601 точки в одном измерительном цикле.
• Четырёхканальное графическое отображение результатов с возможностью одновременного вывода нескольких кривых.
• До 16 вариантов разделения экрана для анализа данных.
• Автоматическая сортировка компонентов по 10 классам.
• 10,1-дюймовый емкостный сенсорный дисплей с разрешением 1280 × 800 пикселей.
• Поддержка интерфейсов USB Host, USB Device, LAN, GPIB, RS-232, VGA и HDMI.
• Поддержка команд SCPI и совместимость с Keysight E4990A, E4980A, E4980AL и HP4284A.

Преимущества TH2851-130

• Максимальный частотный диапазон до 130 МГц — позволяет исследовать высокочастотные компоненты, фильтры, резонаторы, антенны и материалы, работающие в RF- и телекоммуникационных системах.
• Высокая скорость измерений — минимальное время тестирования до 5 мс обеспечивает эффективную работу как в лабораториях, так и в автоматизированных испытательных комплексах.
• Прецизионная точность — технология автоматического балансного моста гарантирует высокую достоверность результатов даже при измерениях на высоких частотах.
• Расширенные аналитические возможности — моделирование эквивалентных схем, графический анализ и многоточечное сканирование позволяют глубоко исследовать свойства компонентов и материалов.
• Измерения в реальных условиях эксплуатации — встроенный источник смещения помогает анализировать параметры компонентов под воздействием постоянного напряжения или тока.
• Готовность к автоматизации — широкий набор интерфейсов и поддержка SCPI-команд позволяют интегрировать прибор в автоматизированные измерительные и производственные системы.
• Универсальность применения — один прибор подходит для измерения пассивных компонентов, полупроводниковых устройств, магнитных, диэлектрических и полупроводниковых материалов.

Области применения

• Разработка и исследование высокочастотных электронных компонентов.
• Измерение параметров конденсаторов, катушек индуктивности, трансформаторов, фильтров и резонаторов.
• Анализ характеристик RF-компонентов, антенн и телекоммуникационного оборудования.
• Исследование ферритов, магнитомягких материалов и высокочастотных магнитопроводов.
• Измерение диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь материалов.
• Анализ характеристик диодов, транзисторов, MEMS-устройств и других полупроводниковых компонентов.
• Контроль качества электронных компонентов и материалов на производстве.
• Научно-исследовательские, испытательные и метрологические лаборатории.