TH2851-050 — высокоточный анализатор импеданса до 50 МГц

TH2851-050 — флагманская модель серии анализаторов импеданса TH2851, предназначенная для прецизионных измерений параметров электронных компонентов, полупроводниковых приборов, магнитных и диэлектрических материалов в диапазоне частот от 10 Гц до 50 МГц. Прибор сочетает высокую точность измерений, широкие возможности анализа и современные средства визуализации данных, что делает его эффективным инструментом для научных исследований, разработки новых изделий и контроля качества продукции.

Благодаря типовой погрешности измерений до ±0,045%, встроенному источнику постоянного смещения до ±40 В и поддержке многопараметрических моделей замещения, TH2851-050 позволяет исследовать поведение компонентов в широком диапазоне частот и в условиях, максимально приближенных к реальной эксплуатации. Частотный диапазон до 50 МГц обеспечивает возможность анализа высокочастотных компонентов, фильтров, ферритовых материалов и устройств связи нового поколения.

Основные возможности

• Диапазон тестовых частот от 10 Гц до 50 МГц.
• Основная погрешность измерений до ±0,08% (типовое значение ±0,045%).
• Диапазон измерения импеданса от 25 мОм до 40 МОм.
• Встроенный источник постоянного смещения до ±40 В или ±100 мА.
• Поддержка анализа эквивалентных схем и моделирования параметров компонентов.
• Измерение импеданса (Z), проводимости (Y), активного и реактивного сопротивления, индуктивности (L), ёмкости (C), добротности (Q), тангенса угла потерь (D), фазового угла и других параметров.
• Отображение комплексных значений импеданса и проводимости.
• Три режима работы: точечные измерения, сканирование по списку и графическое сканирование.
• Сканирование до 1601 точки в одном измерительном цикле.
• Четырёхканальный графический анализ с возможностью одновременного отображения нескольких кривых.
• 16 вариантов отображения графиков и результатов измерений на экране.
• Сортировка компонентов по 10 классам для автоматизированного контроля качества.
• 10,1-дюймовый емкостный сенсорный экран с разрешением 1280 × 800 пикселей.
• Поддержка команд SCPI для автоматизации измерений.
• Совместимость с программными решениями и командами Keysight E4990A, E4980A, E4980AL и HP4284A.

Преимущества TH2851-050

• Максимальный частотный диапазон в серии — измерения до 50 МГц позволяют исследовать высокочастотные компоненты и материалы, используемые в телекоммуникационном оборудовании, радиочастотных устройствах и современной силовой электронике.
• Прецизионная точность — типовая погрешность до ±0,045% обеспечивает высокую достоверность результатов измерений.
• Исследование компонентов в реальных условиях работы — встроенный источник смещения позволяет анализировать характеристики под воздействием постоянного напряжения или тока.
• Расширенные аналитические функции — моделирование эквивалентных схем, многоточечное сканирование и графический анализ упрощают разработку и диагностику электронных устройств.
• Эффективная автоматизация испытаний — поддержка SCPI-команд и совместимость с популярными измерительными платформами позволяют легко интегрировать прибор в автоматизированные измерительные комплексы.
• Удобство работы — большой сенсорный дисплей обеспечивает наглядное отображение графиков, таблиц и результатов измерений.
• Универсальность применения — один прибор подходит для исследования пассивных компонентов, полупроводниковых устройств, магнитных и диэлектрических материалов.

Области применения

• Разработка и исследование высокочастотных электронных компонентов.
• Измерение параметров конденсаторов, катушек индуктивности, трансформаторов, ферритовых фильтров и резонаторов.
• Анализ характеристик диодов, транзисторов, MEMS-устройств и других полупроводниковых компонентов.
• Исследование RF-компонентов и узлов радиочастотных трактов.
• Измерение диэлектрической проницаемости и тангенса угла потерь материалов.
• Изучение магнитной проницаемости и потерь ферритов, порошковых и аморфных магнитных материалов.
• Контроль качества электронных компонентов и материалов на производстве.
• Научно-исследовательские, испытательные и метрологические лаборатории.