TH511 — измеритель вольт-фарадных характеристик (C-V) полупроводниковых приборов
TH511 представляет собой специализированный измерительный комплекс для анализа вольт-фарадных характеристик (C-V) и паразитных емкостных параметров полупроводниковых приборов. Система предназначена для исследования диодов, MOSFET, IGBT, тиристоров, интегральных схем, оптоэлектронных компонентов и других полупроводниковых устройств как на этапе разработки, так и в процессе производства и контроля качества.
Прибор сочетает функции высокоточного измерителя LCR-параметров, источников напряжения затвора и стока, а также специализированного программного обеспечения для анализа характеристик полупроводниковых приборов. Благодаря поддержке высоких напряжений смещения и многоканальному тестированию TH511 обеспечивает комплексное исследование параметров современных силовых полупроводниковых компонентов.
Основные возможности
- Измерение вольт-фарадных характеристик (C-V) полупроводниковых приборов.
- Анализ паразитных емкостей MOSFET, IGBT и других силовых компонентов.
- Измерение параметров Ciss, Coss, Crss и сопротивления затвора Rg.
- Поддержка альтернативных обозначений параметров Cies, Coes и Cres.
- Напряжение управления затвором VGS от 0 до ±40 В.
- Напряжение стока VDS до ±200 В, ±1500 В или ±3000 В в зависимости от конфигурации системы.
- Измерение и анализ характеристик диодных переходов с использованием функции Cs-V.
- Построение графиков C-V и зависимостей емкости от сопротивления затвора.
- Три режима работы: тестирование отдельных кристаллов, испытания модулей и построение графических зависимостей.
- Измерение нескольких параметров с автоматическим выводом результатов в одном окне.
- Два измерительных канала в стандартной комплектации с возможностью расширения до шести каналов.
- Поддержка тестирования дискретных компонентов, многокристальных устройств и силовых модулей.
- Автоматическая проверка наличия контакта с тестируемым изделием.
- Функция тестирования проводимости и диагностики коротких замыканий.
- Автоматическая настройка времени задержки измерений.
- 10 уровней сортировки для производственного контроля качества.
Преимущества TH511
- Специализация на силовых полупроводниках — оптимизирован для анализа MOSFET, IGBT, SiC- и GaN-компонентов.
- Высокие напряжения смещения — возможность исследования характеристик приборов в условиях, приближенных к реальной эксплуатации.
- Многоканальные измерения — ускоряют тестирование силовых модулей и многокристальных устройств.
- Функция Crss Plus — повышает достоверность измерения обратной проходной емкости на высоких частотах.
- Защита от перенапряжения — предотвращает повреждение измерительной системы при тестировании мощных компонентов.
- Высокая производительность — технология быстрой зарядки конденсаторов сокращает время выполнения измерений.
- Автоматизация контроля качества — встроенные функции сортировки и обработки результатов упрощают интеграцию в производственные процессы.
- Удобный графический анализ — построение C-V характеристик позволяет быстро оценивать параметры и состояние полупроводниковых приборов.
Области применения
- Измерение паразитных емкостей MOSFET, IGBT, тиристоров и силовых диодов.
- Исследование полупроводниковых приборов на основе кремния (Si), карбида кремния (SiC) и нитрида галлия (GaN).
- Контроль качества силовых полупроводниковых компонентов.
- Разработка и испытания силовой электроники.
- Исследование параметров интегральных схем и оптоэлектронных компонентов.
- Анализ отдельных кристаллов после разделения полупроводниковых пластин.
- Лабораторные исследования полупроводниковых материалов и структур.
- Научно-исследовательские и производственные испытательные лаборатории.
|
Параметр |
Значение |
||
|
Модель |
TH511 |
||
|
Каналы |
2（2/4 канала опционально） |
||
|
Дисплей |
Тип |
10.1-дюйма емкостной сенсорный дисплей |
|
|
Отношение сторон |
16:9 |
||
|
Разрешение |
1280×RGB×800 |
||
|
Измеряемые параметры |
CISS, COSS, CRSS, Rg. Произвольный выбор четырех измеряемых параметров |
||
|
Режим измерений LCR |
√ |
------ |
|
|
Частота тестового сигнала |
Диапазон |
от 10 кГц до 2 МГц |
|
|
Погрешность установки |
± 0.01 % |
||
|
Разрешение |
10 мГц |
от 1.00000 до 9.99999 кГц |
|
|
100 мГц |
от 10.0000 до 99.9999 кГц |
||
|
1 Гц |
от 100.000 до 999.999 кГц |
||
|
10 Гц |
от 1.00000 до 2.00000 МГц |
||
|
Уровень тестового сигнала |
Диапазон напряжений |
от 5 мВ до 2 В (СКЗ) |
|
|
Погрешность |
± (0.1 x Uуст. + 2 мВ) |
||
|
Разрешение |
1 мВ (СКЗ) |
от 5 мВ до 1 В (СКЗ) |
|
|
10 мВ (СКЗ) |
от 1 до 2 В (СКЗ) |
||
|
VGS |
Диапазон |
от 0 до ±40 В |
|
|
Погрешность |
± (0.01 x Uуст. + 8 мВ) |
||
|
Разрешение |
1 мВ |
от 0 до ±10 В |
|
|
10 мВ |
от ±10 до ±40 В |
||
|
VDS |
Диапазон |
от 0 до ±200 В |
|
|
Погрешность |
± (0.01 x Uуст.+ 100 мВ) |
||
|
Выходной импеданс |
100 Ом，±2 % на 1 кГц |
||
|
Расчетные значения |
Абсолютное отклонение от номинала Δ, относительное отклонение от номинала Δ % |
||
|
Функция калибровки |
ХХ (OPEN), КЗ (SHORT), СН (LOAD) |
||
|
Диапазон уст. коэфф. усреднения |
от 1 до 255 |
||
|
Время аналого-цифрового преобразования (в зависимости от выбранного режима) |
Fast+: 2.5 мс (＞5 кГц), Fast: 11 мс, Middle: 90 мс, Slow: 220 мс. |
||
|
Основная погрешность |
± 0.1 % |
||
|
CISS, COSS, CRSS |
от 0.00001 пФ до 9.99999 Ф |
||
|
Rg |
от 0.001 мОм до 99.9999 МОм |
||
|
Δ% |
±（0.000% - 999.9%） |
||
|
Список параметров сканирования |
Кол-во точек |
20 точек, каждой из которых соответствует строка в списке сканирования, для каждой точки можно задать число усреднений и порядок следования в списке |
|
|
Параметры |
Частота тестового сигнала, Vg, Vd, канал |
||
|
Режим запуска |
Последовательность: при поступлении сигнала запуска выполняются измерения на всех точках списка, сигналы /EOM/INDEX выдаются однократно по завершении. |
||
|
Пошаговый: измерение только на одной точке при каждом запуске, для каждой точки выдаются сигналы /EOM/INDEX, но результат выдается при последнем /EOM |
|||
|
Построение графических зависимостей |
Кол-во точек |
Может быть задано произвольно, до 1001 точки |
|
|
Отображение результатов |
Несколько зависимостей одного параметра при разных значениях Vg; Несколько зависимостей разных параметров при одинаковых значениях Vg. |
||
|
Масштаб отобрашения |
Изменяющийся автоматически в режиме реального времени, фиксированный |
||
|
Формат осей |
Логарифмический, линейный |
||
|
Параметры |
Vg,Vd |
||
|
Режимы запуска |
Однократный |
Однократный запуск в ручном режиме, выполняется одно сканирование от начальной до конечной точки, при повторном запуске сканирование начинается с первой точки |
|
|
Непрерывны |
й Непрерывное циклическое сканирование от первой до последней точки |
||
|
Сохранение результатов |
График, файл данных |
||
|
Допусковый контроль |
Кол-во ячеек (Bin) |
10 Bin,PASS,FAIL |
|
|
Настройки отклонения |
Абсолютное отклонение, относительное отклонение %, отключено (Off) |
||
|
Режим |
Допуск, непрерывно |
||
|
Глубина счетчика Bin |
0-99999 |
||
|
Критерий принятия решения |
Для каждой ячейки Bin можно задать верхнюю и нижнюю границы поля допуска по 4-м параметрам. Если один из 4-х контролируемых параметров выходит за поле допуска, отображаться "FAIL". Если задана только одна граница (верхняя или нижняя) - допуск односторонний, если ни одна не задана - параметр игнорируется. |
||
|
Индикация PASS/FAIL |
Параметры Bin 1-10 в допуске - индикация "PASS", в противном случае - "FAIL". |
||
|
Хранение данных |
201 результат измерений может быть считан по группам параметров |
||
|
Сохранение файлов |
Внутренняя память |
Порядка 100 МБ энергонезависимой памяти для хранения файлов настроек измерений |
|
|
Внешний USB |
Файлы настроек измерений, скриншоты, файлы логов |
||
|
Блокировка клавиш |
Клавиши передней панели могут быть блокированы, другие функции будут расширены |
||
|
Интерфейсы |
USB HOST |
2 разъема USB HOST, к каждому из которых могут быть подключены клавиатура и мышь, одновременно можно использовать только один USB-диск |
|
|
USB DEVICE |
Разъем USB, тип B (4 контакта); совместим с USB TMC-USB488 и USB2.0, гнездо для подключения внешних контроллеров. |
||
|
LAN |
10/100M Ethernet, 8 контактов, две опции скорости |
||
|
HANDLER |
Используется для вывода сигналов состояния ячеек Bin |
||
|
RS232C |
Стандартный 9-контактный, перекрестный |
||
|
RS485 |
Для подключения модулей расширения или внешнего модуля RS232 - RS485 |
||
|
Время прогрева после включения |
60 минут |
||
|
Параметры питающей сети |
Напряжение 110±10 В или 220±22 В опционально, частота от 47 до 63 Гц |
||
|
Потребляемая мощность |
Не менее 130 В·А |
||
|
Габариты (ШxВxД) |
430x177x405 мм |
||
|
Масса |
не более 16 кг |
||
Все покупки на сайте осуществляются с помощью безналичной оплаты.
Все платежи для физических лиц осуществляются через сервис Paykeeper.
Также возможно оформление счета для оплаты от юридического лица (мы работаем с НДС).
Подробная информация на странице «Условия оплаты».
Мы доставляем грузы несколькими транспортными компаниями, подробнее узнать о которых вы можете в разделе «доставка».
Выбрать вариант доставки вы можете при оформлении заказа на сайте, либо связавшись с менеджером
Срок поставки менеджер уточнит после оформления заявки.
Нужна консультация?
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос