Исследование томского учёного позволит разобраться в механизмах радиационной деградации
полимерных материалов.
Доктор физико-математических наук, профессор ТУСУРа Михаил Михайлов установил закономерности накопления кластеров углерода совместно с радикалами при облучении полиэтилена. В статье, которая была
опубликована в журнале Polymer Degradation and Stability, учёный установил корреляцию: в облучённых полимерах свободные радикалы и кластеры углерода обладают меньшей энергией ионизации при большей их массе.
С помощью высокоточного метода регистрации спектров поглощения на месте облучения (in situ) в широком диапазоне доз в высоком вакууме были установлены зависимости энергии ионизации образованных дефектов от их массы: при облучении электронным пучком в структуре образуются не только свободные радикалы, но и кластеры углерода.

Также исследователь установил корреляцию: чем сложнее структура образованных при облучении свободных радикалов и кластеров углерода и больше их масса, тем меньшей энергией ионизации они обладают: «Наличие такой корреляция позволит определять типы и концентрацию образованных радикалов на различных этапах облучения, строить схемы происходящих при этом процессов и создавать модели прогнозирования их свойств и рабочих характеристик. Такие модели в дальнейшем помогут разобраться в механизмах радиационной деградации и других материалов и давать экспертные оценки. Мы сможем понимать, каково будет поведение материалов при больших дозах радиации или длительных сроках эксплуатации».
Источник:
ТУСУР