Bruker объявила о выпуске OPTIMUS™ TKD ? уникального решения для применения дифракции отражённых электронов в сканирующем электронном микроскопе
Компания Bruker объявила о выпуске новой детекторной головки OPTIMUS%26trade; для применения дифракции отражённых электронов (ДОЭ, или дифракция Кикучи ? TKD) в сканирующем электронном микроскопе (SEM). В этом новейшем изделии используется горизонтальный люминесцентный экран, который можно устанавливать непосредственно под электронно-прозрачными образцами.OPTIMUS%26trade; TKD может взаимозаменяться со стандартной детекторной головкой всех детекторов дифракции на отражённых электронах (EBSD) Bruker e-Flash, позволяя удобно применять и EBSD, и TKD на одном детекторе.
Детекторная головка TKD OPTIMUS™ обеспечивает оптимальные геометрические условия, что даёт два больших преимущества перед TKD с использованием стандартных EBSD-детекторов, в которых применяется только вертикальный экран. Во-первых, сигнал регистрируется там, где он сильнее всего, а во-вторых, получающиеся изображения демонстрируют наименьшее возможное искажение. Благодаря усилению сигнала в TKD-детекторе OPTIMUS™ пользователи могут получать данные быстрее при том же токе SEM или получать повышенное поперечное пространственное разрешение при более низких токах. Либо можно снизить ускоряющее напряжение SEM, чтобы повысить качество анализа очень тонких образцов, так как электроны низкой энергии будут иметь более высокую вероятность дифракции на решётках зёрен. Второе преимущество ? минимальное искажение ? приводит к дополнительному улучшению как детектирования диапазона, так и точности индексации.
TKD-детектор OPTIMUS™ также может использоваться для регистрации изображений электронной дифракции на отдельных участках (SAED), очень близких к тем, что наблюдаются в традиционном просвечивающем электронном микроскопе, но при гораздо меньших затратах средств и труда.
Те же идеальные геометрические условия являются преимуществом и системы прямого детектирования электронов ARGUS™, интегрированной в OPTIMUS™. На изображениях в тёмном и светлом поле, получаемых ARGUS™ в режиме пропускания, видны микроструктурные особенности нанометрового масштаба, а также такие детали, как отдельные дислокации или стенки дислокаций в деформированных материалах.
Детекторная головка OPTIMUS™ совместима со всеми EBSD-детекторами e-Flash производства компании Bruker. Подготовленные пользователи могут легко оснастить ею имеющиеся детекторы меньше чем за 20 минут. В зависимости от измерительной задачи, пользователи могут на выбор применять TKD- и EBSD-анализ. Новая детекторная головка OPTIMUS™ идеально работает в сочетании с держателем образца TKD и с EDS-детекторами XFlash® производства компании Bruker.
За консультацией и по вопросам приобретения оборудования Вы можете обратиться к нашим специалистам - sales@spegroup.ru
