TH521 — анализатор силовых полупроводниковых приборов

TH521 представляет собой комплексную измерительную платформу для всестороннего анализа и тестирования силовых полупроводниковых устройств. Прибор предназначен для исследования характеристик MOSFET, IGBT, BJT, диодов, тиристоров, а также современных приборов на основе карбида кремния (SiC) и нитрида галлия (GaN). Система объединяет функции анализа вольт-амперных характеристик (I-V), измерения паразитных емкостей (C-V), заряда затвора (Qg), коммутационных параметров и расчета потерь в одном измерительном комплексе.

Благодаря модульной архитектуре серия TH521 позволяет подобрать конфигурацию под конкретные задачи испытаний. Поддержка напряжений до 3500 В, токов до 1800 А и температурных испытаний от -50 до +250 °C обеспечивает исследование как дискретных компонентов, так и мощных силовых модулей в условиях, максимально приближенных к реальной эксплуатации.

Основные возможности

• Комплексное тестирование силовых полупроводниковых приборов в единой измерительной системе.
• Измерение вольт-амперных характеристик (I-V) и построение характеристических кривых.
• Определение напряжения пробоя (BV), сопротивления открытого канала (RDS(on)), токов утечки и порогового напряжения (Vth).
• Измерение входной, выходной и обратной емкости (Ciss, Coss, Crss), а также других паразитных параметров.
• Анализ заряда затвора (Qg) и характеристик управления силовыми транзисторами.
• Исследование коммутационных параметров и расчет потерь при переключении.
• Поддержка измерений C-V с частотой до 10 МГц.
• Диапазон испытательных напряжений до 3500 В.
• Поддержка токов до 1800 А для тестирования мощных силовых модулей.
• Температурные испытания в диапазоне от -50 °C до +250 °C.
• Импульсные методы измерения для минимизации саморазогрева тестируемого прибора.
• Построение временных осциллограмм токов и напряжений.
• Автоматическая обработка результатов и формирование отчетов испытаний.
• Поддержка измерений как корпусированных компонентов, так и пластин (wafer-level testing).
• Большой сенсорный дисплей с высоким разрешением для удобного анализа данных.
• Интерфейсы USB, LAN, RS-232 и Handler для интеграции в автоматизированные испытательные комплексы.
• Поддержка SCPI-команд, Python, LabVIEW и .NET API.

Преимущества TH521

• Полный цикл анализа силовых приборов — объединяет измерения I-V, C-V, Qg и параметров потерь в одной системе.
• Поддержка современных технологий SiC и GaN — оптимизирован для тестирования широкозонных полупроводников нового поколения.
• Испытания мощных устройств — поддержка напряжений до 3500 В и токов до 1800 А позволяет работать с силовыми модулями высокой мощности.
• Минимизация теплового влияния — импульсные методы измерения обеспечивают высокую точность даже при тестировании мощных компонентов.
• Гибкая модульная архитектура — конфигурация прибора может быть адаптирована под конкретные задачи разработки и производства.
• Автоматизация испытаний — интеграция в автоматизированные тестовые системы сокращает время проверки и исключает влияние человеческого фактора.
• Расширенные аналитические возможности — расчет коммутационных и проводниковых потерь помогает оптимизировать силовые электронные устройства на этапе разработки.
• Универсальное применение — подходит как для научно-исследовательских лабораторий, так и для серийного производства силовой электроники.

Области применения

• Разработка и исследование силовых полупроводниковых приборов.
• Тестирование MOSFET, IGBT, BJT, тиристоров и силовых диодов.
• Исследование приборов на основе SiC и GaN.
• Контроль качества силовых полупроводников на производстве.
• Измерение параметров кристаллов и полупроводниковых пластин.
• Разработка преобразователей энергии, инверторов и источников питания.
• Испытания компонентов для электромобилей, зарядных станций и систем возобновляемой энергетики.
• Научно-исследовательские, испытательные и метрологические лаборатории.