|
Госреестр:№ 69049-17 до: |
Позволяет с лёгкостью получить доступ к атомарной информации. Сочетая проверенные компоненты, такие как корректоры сферической аберрации (Cs), монохроматорная система и чувствительная технология ChemiSTEM™, с новым улучшенным предметным столиком с пьезоэлектрическим приводом, программным обеспечением FEI Velox™ и
16-мегапиксельной CMOS-камерой FEI Ceta, этот прибор обеспечивает максимально быструю навигацию и моментальное увеличение для получения детальных изображений на уровне от мезоскопических до атомных длин.
Модельный ряд Titan постоянно обновляется и включает в себя самые мощные в мире TEM: Titan Themis, Titan Krios, Titan ETEM. Созданные на базе революционной 80-300 кВ электронной колонны, все модели Titan позволяют проводить исследования на атомарном уровне и работать с широким спектром материалов при различных условиях.
| Особенности |
Высочайшая производительность. В основе Titan лежит мощное программное обеспечение Velox — разработка компании FEI. ПО Velox обеспечивает одновременное обнаружение нескольких сигналов от четырёх детекторов, что ускоряет формирование изображения сканирующей просвечивающей электронной микроскопии (S/TEM). Кроме того, Velox поддерживает новые функции, например формирование изображений дифференциального фазового контраста (DPC) для исследования внутренних магнитных и электрических полей — даже между атомами. Получить данные о химическом составе и состоянии связей можно невероятно быстро: со скоростью до 1000 спектров/с при одновременном сборе данных энергодисперсионной спектроскопии (EDS) и спектроскопии потерь энергии электронов (EELS) и с лидирующей в отрасли скоростью 100 000 спектров/с при сборе данных EDS. Благодаря Velox данные трёхмерного анализа теперь можно получить в сроки, которые прежде требовались для обработки двухмерного изображения. Исключительное качество изображений S/TEM. Программное обеспечение Velox Capture и Cs-корректированная оптика обеспечивают высочайшее качество изображения благодаря новой интеллектуальной технологии сканирования — интегрированию кадров с компенсацией дрейфа (Drift Corrected Frame Imaging, DCFI). Эту технологию можно совместить с рекурсивными возможностями химической визуализации микроскопа Titan, после чего направить финальный набор данных на постобработку. Расширение аналитических возможностей. Программный модуль для написания скриптов Velox, поддерживающий работу с популярным в научно-исследовательских кругах языком программирования CPython, позволяет существенно расширить возможности количественного анализа. |
| Характеристики электронной пушки |
• Корректор изображений: Разброс по энергии: 0,7–0,8 В** Разрешающая способность по точкам: 80 пм Информационный предел: 80 пм Разрешение STEM: 136 пм • Корректор зонда: Разброс по энергии: 0,7–0,8 В** Разрешающая способность по точкам: 200 пм Информационный предел: 100 пм Разрешение STEM: 70 пм • Монохроматор /X-FEG корректор изображений и зонда: Разброс по энергии: 0,2–0,3 В** Разрешающая способность по точкам: 80 пм Информационный предел: 70 пм Разрешение STEM: 70 пм • Корректор изображений и зонда: Разброс по энергии: 0,7–0,8 В** Разрешающая способность по точкам: 80 пм Информационный предел: 80 пм Разрешение STEM: 70 пм • Новая трёхлинзовая конденсаторная система с количественной индикацией угла сведения и размера облучаемой поверхности для количественного измерения электронной дозы и условий облучения Гибкий диапазон по высокому напряжению: Titan Themis 300 и Titan Themis3 300: 60–300 кВ (60, 80, 120, 200, 300 кВ); Titan Themis 200: 80–200 кВ (80, 120, 200 кВ) • Монохроматор электронной пушки для достижения высокого разрешения EELS и улучшенного пространственного разрешения, особенно в случае низкокиловольтной HR-S/TEM • STEM и TEM: Titan Themis 300 и Titan3 Themis 300: до 70 пм как для STEM, так и для TEM; Titan Themis 200: 90 пм для TEM, 80 пм для STEM |
| Предметный столик |
· Одинарный наклонный держатель · Двойной наклонный держатель · Томографический держатель · Функциональные держатели (список по запросу) • Новый компьютеризированный 5-осевой предметный столик с пьезоэлектрическим приводом, обеспечивающий точное восстановление положения из памяти, отслеживание просмотренных в ходе исследования областей и сверхустойчивое высокое разрешение на субангстремном уровне с низким смещением образца • Новый предметный столик с пьезоэлектрическим приводом, обеспечивающий возможность перемещения с минимальным шагом 20 пм при центрировании нужной области в зоне видимости • Линейная компенсация смещения, обеспечиваемая предметным столиком с пьезоэлектрическим приводом и позволяющая снизить зависимость от ограничений, которые накладываются тепловым дрейфом, неизбежно возникающим в ходе экспериментов с нагревом или охлаждением in situ • Амплитуда наклона ± 40 градусов для аналитического двойного наклонного держателя, позволяющая максимально приблизиться к оси кристалла поликристаллического материала. Томографический держатель обеспечивает наклон до ± 75 градусов для минимизации отсутствующего клина на трёхмерных реконструкциях |
| Рабочая камера | • Симметричная линза Ruska-Rieke S-Twin с широким зазором полюсного наконечника 5,4 мм и дополнительным пространством, позволяющим использовать специальные держатели, в том числе нагреваемые держатели, охлаждаемые держатели и держатели STM/AFM• Симметричная линза Ruska-Rieke S-Twin с широким зазором полюсного наконечника 5,4 мм и дополнительным пространством, позволяющим использовать специальные держатели, в том числе нагреваемые держатели, охлаждаемые держатели и держатели STM/AFM |
| Детекторы |
· HAADF-детектор · Расположенные на оси тройные детекторы DF1/DF2/BF · Камера Ceta 16M · Камеры Gatan US1000/US4000 Серия энергетических фильтров Gatan · Super-X: высокочувствительная безоконная система EDX-детекторов на базе технологии SSD (запатентованная разработка) · Выходная интенсивность до 200 килоимпульсов в секунду Энергетическое разрешение Телесный угол 0,7 стерадиан · Комбинированная площадь обнаружения 120 мм² Скоростная съёмка: пиксельное время выполнения операции понижено до 10 мкс Высокое отношение пика сигнала к сигналу от газового пузыря (число Фиори) > 4000 Превосходные дырочные характеристики ( Низкий уровень фона в режиме EDX ( · Обнаружение всех элементов вплоть до бора |
| Управление системой |
• Фокусное программное приложение TrueImage™ для количественных применений TEM высокого разрешения (более подробные сведения см. в отдельном информационном листке) |
Все покупки на сайте осуществляются с помощью безналичной оплаты.
Все платежи для физических лиц осуществляются через сервис Paykeeper.
Также возможно оформление счета для оплаты от юридического лица (мы работаем с НДС).
Подробная информация на странице «Условия оплаты».
Мы доставляем грузы несколькими транспортными компаниями, подробнее узнать о которых вы можете в разделе «доставка».
Выбрать вариант доставки вы можете при оформлении заказа на сайте, либо связавшись с менеджером
Срок поставки менеджер уточнит после оформления заявки.
FEI Company — американская компания, специализирующаяся в области средств электронной микроскопии.
FEI является ведущей компанией, разрабатывающей научное оборудование, электронные и ионно-лучевые микроскопы и другие инструменты для наномасштабных приложений во многих отраслях промышленности: производственные и научные исследования материалов, науки о жизни, полупроводники, хранение данных, природные ресурсы и многое другое.
Инструменты, выпускаемые FEI, включают технологии ионного и электронного пучков, что позволяют пользователям характеризовать, анализировать и оперировать структурами на менее чем суб-ангстремном уровне.
Компания FEI установила стандарт производительности для просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), сканирующих электронных микроскопов (СЭМ) и двулучевых микроскопов, которые сочетают в себе СЭМ со сфокусированным пучком ионов (ФИП). Системы визуализации компании FEI обеспечивают 3D-характеризацию, анализ и модификацию / прототипирование с разрешением до субангстремного уровня.
Нужна консультация?
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос