Артикул:
MLA650FEG
Цена по запросу
Варианты цен
Цена по запросу
Под заказ
В корзину
Купить в 1 клик
MLA 650 FEG создан на базе сканирующего электронного микроскопа Quanta 650 FEG с двумя предустановленными EDS-спектрометрами автоматизированная высокопроизводительная система для анализа минералов. Используя интегрированное оборудование и мощное специализированное программное обеспечение, данные микроскопы способны определять большинство минералов. Это единственные системы в мире, для которых возможен полностью автоматизированный анализ петрографических образцов.
| Особенности |
• Режим естественной среды (ESEM™) • Два энергодисперсионных рентгеновских спектрометра с кремниевыми дрейфовыми детекторами (EDS) •Программное обеспечение QEMSCAN и ПО для сканирования и обработки сигнала (eSCAN и eXRAY), • Петрографический анализатор (анализ состава и структуры) • Основа: сканирующий электронный микроскоп с термоэмиссионным катодом • Минеральная классификация с помощью алгоритмов элементного анализа (SIP) • Высокая скорость (до 200 измерений в секунду) • Возможность автоматического анализа • Возможность проведения количественного анализа • Возможность анализа отдельных частиц •Шаблоны отчетов для различных отраслей промышленности: нефтегазовой, горнодобывающей и т.д. • Наименьший размер исследуемой частицы: 1 мкм • Годовая подписка предусматривает всестороннюю поддержку и лицензию на обновление программного обеспечения |
| Характеристики электронной пушки |
• Высокий вакуум - 0,8 нм при 30 кВ (STEM)* - 1,2 нм при 30 кВ (SE)* - 2,5 нм при 30 кВ (BSE)* - 3,0 нм при 1 кВ (SE) • Высокий вакуум в режиме торможения пучка - 3,0 нм при 1 кВ (режим BD* + BSE*) - 2,3 нм при 1 кВ (режим BD* + ICD*) - 3,1 нм при 200 В (режим BD* + ICD*) • Низкий вакуум - 1,4 нм при 30 кВ (SE) - 2,5 нм при 30 кВ (BSE)* - 3,0 нм при 3 кВ (SE) • Режим естественной среды (ESEM) - 1,4 нм при 30 кВ (SE) • Ускоряющее напряжение: от 200 В до 30 кВ • Напряжение у поверхности образца: - Номинальное значение: от 200 В до 30 кВ - В режиме замедления пучка*: от 20 В до 30 кВ • Ток зонда: ≤200 нA с плавной регулировкой • Увеличение: 14–1 000 000 x |
| Предметный столик |
Вцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик Перемещение в плоскости XY: 150 x 150 мм Моторизованное перемещение по оси Z: 65 мм Поворот: n x 360° Наклон: -15° / +70° Вцентрический наклон на высоте 29,3 мм для любых рабочих расстояний |
| Рабочая камера |
• Ширина: 379 мм • Аналитическое рабочее расстояние 10 мм • Количество портов: 8 • Угол выхода для детектора EDS: 35° |
| Детекторы |
EDS (энергодисперсионная система) • Безазотные кремниевые дрейфовые детекторы • Активная площадь детектирования: 2 x 30 мм2 • Разрешение по энергии: ≤ 133 В • Средняя скорость счета: 800 000 имп/c • Детектор вторичных электронов (SED) Верхарта — Торнли • Низковакуумный детектор вторичных электронов большого поля (LFD) • Газовый детектор вторичных электронов (GSED) (используется в режиме ESEM) • ИК-камера для контроля положения образца в камере • Nav-CamTM — цветная оптическая камера для навигации по образцу* • Направленный детектор обратно отраженных электронов (DBS)* • Газовый аналитический BSED (GAD)* • Детектор прошедших электронов (STEM)* • Внутриколонный детектор (ICD) для режима торможения пучка* • Газовый детектор обратно отраженных электронов для обнаружения при высоком давлении в режиме ESEM* • Cсцинтиллятор BSED/CLD* • vCD (низковольтный высококонтрастный детектор)* • Измерение тока электронного пучка* |
| Вакуумная система |
• 1 x 250 л/с TMP (турбомолекулярный насос), 1 x PVP (форвакуумный насос) • Запатентованный способ дифференциальной откачки через линзу • Длина пути пучка в газе: 10 мм или 2 мм • Возможность установки безмасляного винтового/сухого PVP по дополнительному заказу • Вакуумная камера (высокий) • Вакуумная камера (низкий) • Режим ESEM • Время откачки: ≤150 с до высокого вакуума и ≤270 с до ESEM (стандартные процедуры испытаний FEI |
| Дополнительные аналитические возможности |
Отчетность •3D диаграммы •2D диаграммы •XY диаграммы •Модальный анализ •Изображение частиц •Отчеты о степени свободы минералов •Тройные диаграммы •Ратификация данных •Перевод данных в формат таблицы •Растр – градуирует измерение по X и Y осям с целью визуализации геометрических свойств зерен и их расположения •Intercept length distribution - распределение длин отрезков •Минеральные ассоциации •Анализ восстановления •Теоретическое соотношение :содержание/извлечение •Индивидуальная настройка отчетов •Drill down reports - Детальные отчеты •Экспорт данных и изображений •Интерактивные сводки •Набор установок, которые распределяют измеренные частицы на категории: - По минеральному составу - По элементному составу - По полученным значениям - Простые и комплексные частицы |
| Управление системой |
• Источники данных могут анализироваться отдельно, вместе взятых, или по сравнению • Расчеты: - свойства элементарных частиц - свойства зерна - Режимное минералогии - Анализ - рассчитывается из минеральных композиций - Элементарный распределение по минералов - Восстановление полезных ископаемых оценка - Восстановление класса Element -- Распределение частиц по размерам - Минеральное распределение зерен по размерам - Распределение плотности частиц - Минеральные ассоциации - Минеральное замок - ОУМР - фаза удельная площадь поверхности - Минеральное освобождение от состава частиц - Минеральное освобождение от свободной поверхности • Составление отчетов - Шаблоны - используемые для настройки и запустить серию расчетов, могут быть экспортированы в различные форматы, включая Excel, Word, текст и базы данных - Экспорт Буфер обмена - DataSource фильтры - Предустановленные и пользовательские классы освободительные - Минеральные группировки - Просмотр, сортировать и фильтровать изображения частиц в пределах определенного источник данных |
| Получение изображений |
• Разрешение до 6144 x 4096 пикселей • Тип файла: TIFF (8- или 16-битный), BMP, JPEG • Однокадровое изображение или изображение в четырёх квадрантах • 4-квадранта, прямая трансляция • Прямое или статическое смешение сигналов в цвете или градациях серого • усреднение или интегрирование 256 кадров • Запись цифрового видеоизображения (.avi) • Гистограмма изображения и измерительное программное обеспечение |
| Доступные программные функции |
• Системный менеджер MLA - SEM и EDS интерфейс и лицензирование • MLA мера - модуль сбора данных, включает в себя уведомление по электронной почте при запуске завершении или прерывании • MLA Редактор справочника минералов - позволяет создавать и изменять записанные в справочник минералы и стандарты • MLA обработчик изображений - модуль анализа данных • MLA инструмент передачи данных - модуль управления проектами и данными • MLA DataView - выборка из базы данных и модуль отчетов • Встроенная база данных с Рентгеновскими спектрами минералов и данных о свойствах более 500 минералов • Минеральные свойства: индекс, название, присвоенный цвет (в петрографическом изображении), плотность, средний атомный номер, химическая формула, элементный состав, опорный спектр СЭД • Пользователь может добавлять минеральные стандарты • Возможность простого перемещения минеральных стандартов от одного файла стандарта в другой • микширование Спектр: спектры из различных минералов могут быть смешаны используя различные пропорции для создания псевдо-спектров, которые могут быть добавлены в файл минеральных стандартов, для решения проблем с границами фаз (где объем взаимодействия EDX распространяется через границы минерала) • Калькулятор состава: элементный состав можно рассчитать от химических формул и автоматически обновлять свойства минералов |
| Системные опции |
• Торможение пучка • Ручной пользовательский интерфейс • Вспомогательный ПК (включая второй 24-дюймовый монитор) • Блок переключателей с программным управлением • Охлаждаемый предметный столик с элементом Пельтье с программным управлением • Система WetSTEMTM с программным управлением • Нагреваемый до 1000 °С предметный столик с программным управлением • Нагреваемый до 1500 °С предметный столик с программным управлением • Система криогенной очистки Cryocleaner • Запасная ёмкость для Cryocleaner • Газоинжекционные системы (GIS): до 2 устройств (другие виды вспомогательного оборудования могут накладывать ограничения на количество доступных газоинжекционных систем) для индуцированного электронным пучком осаждения следующих материалов: - Платина - Вольфрам - Углерод • Прототипирование: интегрированное 16-битное приложение для формирования изображения, электронно-лучевая литография • Джойстик • AAS (автоматическая система настройки апертуры) • Измеритель тока образца • Программное обеспечение для дистанционного управления • Комплект держателей образцов • Акустический чехол для вакуумного насоса • 7- или 52-контактный электрический вывод • Электростатический бланкер пучка • Комплект оснащения системой WDS • Опциональная безмасляная система предварительного вакуума по дополнительному заказу (двойные спиральные вакуумные насосы) • Встроенная система плазменной очистки |
| Требования по установке |
• Электропитание: напряжение 230 В (+6%, –10%), частота 50 или 60 Гц (+/–1 %) • Потребляемая мощность: • Сопротивление заземления: • Условия эксплуатации: температура 20 °C +/– 3 °С, относительная влажность не более 80% (без конденсата), уровень паразитных ЭМП с переменным напряжением • Ширина дверного проёма: 90 см • Вес микроскопа с колонной: 530 кг • Вес: электронного блока управления: 139 кг • Рекомендуется сухой азот: система (от 0,7 до 0,8 бар, макс 10 л/мин во время вентилирования) • Сжатый воздух 4–6 бар — чистый, сухой, безмасляный • Охладитель системы требуется лишь в том случае, если условия в помещении не соответствуют техническим условиям, приведённым в руководстве по предварительной установке • Уровень шума: • Вибрация пола (требуется обследование места установки, поскольку должен учитываться спектр частот вибрации пола) • Виброизоляционный стол поставляется по дополнительному заказу |
Все покупки на сайте осуществляются с помощью безналичной оплаты.
Все платежи для физических лиц осуществляются через сервис Paykeeper.
Также возможно оформление счета для оплаты от юридического лица (мы работаем с НДС).
Подробная информация на странице «Условия оплаты».
Мы доставляем грузы несколькими транспортными компаниями, подробнее узнать о которых вы можете в разделе «доставка».
Выбрать вариант доставки вы можете при оформлении заказа на сайте, либо связавшись с менеджером
Срок поставки менеджер уточнит после оформления заявки.
FEI Company — американская компания, специализирующаяся в области средств электронной микроскопии.
FEI является ведущей компанией, разрабатывающей научное оборудование, электронные и ионно-лучевые микроскопы и другие инструменты для наномасштабных приложений во многих отраслях промышленности: производственные и научные исследования материалов, науки о жизни, полупроводники, хранение данных, природные ресурсы и многое другое.
Инструменты, выпускаемые FEI, включают технологии ионного и электронного пучков, что позволяют пользователям характеризовать, анализировать и оперировать структурами на менее чем суб-ангстремном уровне.
Компания FEI установила стандарт производительности для просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), сканирующих электронных микроскопов (СЭМ) и двулучевых микроскопов, которые сочетают в себе СЭМ со сфокусированным пучком ионов (ФИП). Системы визуализации компании FEI обеспечивают 3D-характеризацию, анализ и модификацию / прототипирование с разрешением до субангстремного уровня.
Нужна консультация?
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос
