Под заказ
Арт.: F1
Eoulu F1 — это универсальная платформа с программно-определяемой архитектурой, созданная для высокоточных измерений полупроводниковых пластин с минимальным участием оператора.
Под заказ
Арт.: A-101
Позиционер A-101 — это ручной позиционер для DC-зондов, предназначенный для точного позиционирования зондов при измерениях IV/CV характеристик полупроводниковых приборов. Благодаря высокой точности перемещения (< 5 мкм) и магнитному основанию, он обеспечивает стабильность и надежность контакта, минимизируя механические отклонения.
Под заказ
Арт.: А-202
Ручной позиционер для СВЧ зондов А-202 (Север, Юг) — это высокоточное устройство для тестирования ВЧ (RF) и миллиметровых (mmW) структур, предназначенное для точного позиционирования зондов в задачах измерения характеристик полупроводниковых устройств. A-202 предназначен для работы в ориентации Северный/Южный, что делает его оптимальным для тестирования устройств, требующих точной настройки зонда вдоль продольной оси.
Под заказ
Арт.: А-201
Ручной позиционер для СВЧ зондов А-201 (Запад, Восток) — это высокоточное устройство для позиционирования зондов, предназначенное для тестирования РЧ (RF) и миллиметровых волн (MMW). A-201 предназначен для работы в ориентации (Западный/Восточный), что делает его оптимальным для тестирования устройств, требующих точного выравнивания зонда в поперечной плоскости.
Под заказ
Арт.: E-002
E-002 — калибровочная пластина расширенной универсальности для GSG-пробников, поддерживающая больший шаг зонда (до 400 мкм) и имеющая дополнительные структуры для калибровки при ортогональном расположении пробников. Поддерживаемый частотный диапазон — до 67 ГГц, что делает ее подходящей для большинства СВЧ-приложений.
Под заказ
Арт.: E-004
E-004 — калибровочная пластина, предназначенная для одноточечных (1-портовых) калибровок в конфигурации GS/SG с большим шагом зонда (до 1250 мкм) и рабочей частотой до 40 ГГц. Она рассчитана на случаи, когда пробник имеет одну сигнальную и одну заземляющую иглу, что часто встречается при измерениях отдельных ВЧ-структур или транзисторов.
Под заказ
Арт.: А-301
A-301 — прецизионный ручной позиционер для тестировании в области СВЧ, рассчитанный на повышенную стабильность за счет жесткого крепления к столу (bolt-down). Обеспечивает разрешение перемещения < 2 мкм и ход 12,5 мм по осям. Представлен в Западной и Восточной ориентации при ВЧ и мультисигнальных измерениях, требующих минимальной вибрации и дрейфа. Усиленная конструкция с большим основанием (113×142,5 мм) фиксируется винтами, что позволяет надежно удерживать тяжелые ВЧ-держатели и обеспечивает высокую повторяемость результатов на микроволновых частотах.
Под заказ
Арт.: A-502
A-502 — вариация позиционера A-501, предназначенная для установки спереди или сзади образца (ориентация Север/Юг) при высокочастотных измерениях. Обладает теми же характеристиками высокой точности (< 2 μm шаг) и диапазона (12,5 мм) с магнитной фиксацией основания. A-502 позволяет дополнить боковые позиционеры, обеспечивая доступ при многопортовых ВЧ (RF) тестах. Его прочное магнитное основание 83×83 мм гарантирует стабильность пробника, а встроенный держатель СВЧ-зонда с регулировкой θ обеспечивает удобство позиционирования зонда.
Под заказ
Арт.: E-005
E-005 — компактная калибровочная пластина для однопортовых калибровок в конфигурации GS/SG с небольшим шагом зонда (100−250 мкм) и рабочей частотой до 40 ГГц. Эта модель удобна для высокоточных измерений на чипах и структурах с мелкими контактными площадками, когда требуется калибровка одного порта или два порта с односторонними зондами.
Под заказ
Арт.: E-003
E-003 — калибровочный субстрат для конфигурации GSG, рассчитанный на увеличенный шаг зонда (до 1250 мкм) при сохранении рабочих частот до 67 ГГц. Эта модель предназначена для калибровки измерений на компонентах с крупными контактными площадками или разнесенными точками подключения, где требуется большой интервал между зондами.
Под заказ
Арт.: B-106
B-106 – это прецизионный держатель для DC-зондов, предназначенный для высокоточных измерений постоянного тока (DC) и низкочастотных сигналов. Обеспечивает стабильное механическое крепление, низкое контактное сопротивление и минимальное влияние внешних вибраций, что критически важно для прецизионных исследований, тестирования микроэлектронных компонентов и высокотемпературных испытаний.
Под заказ
Арт.: Straight Probe Tips
Прямые сменные иглы предназначены для высокоточных измерений в микроэлектронике, обеспечивая стабильный контакт с тестируемыми структурами. Они изготовлены из вольфрама, что гарантирует высокую твердость, устойчивость к износу и долговечность.
Эти иглы используются в DC зондах, устанавливаются в соответствующие держатели и позволяют адаптировать зондовую систему под различные задачи.
Эти иглы используются в DC зондах, устанавливаются в соответствующие держатели и позволяют адаптировать зондовую систему под различные задачи.
Под заказ
Арт.: DC
Многоконтактная DC проб-карта предназначена для тестирования цифровых и аналоговых интегральных схем с множеством линий постоянного тока. Она позволяет одновременно измерять электрические параметры множества контактов, что сокращает время тестирования и увеличивает производительность.
Под заказ
Арт.: E-001
E-001 — базовая калибровочная пластина для высокочастотной on-wafer калибровки (калибровки на пластине) с конфигурацией контактов GSG. Она поддерживает шаг зонда от 100 до 250 мкм и частоты вплоть до 67 ГГц, обеспечивая точную калибровку двухпортовых измерений на большинстве стандартных печатных плат и подложек.
Под заказ
Арт.: Angled Probe Tips
Сменные наклонные иглы (D Series Angled Probe Tips, 45°) предназначены для тестирования труднодоступных контактов и работы с многослойными структурами. Они обеспечивают точный контакт под углом, что необходимо для тестирования сложных геометрий электронных компонентов.
Иглы изготовлены из вольфрама, обеспечивая высокую прочность, устойчивость к износу и стабильность контакта.
Иглы изготовлены из вольфрама, обеспечивая высокую прочность, устойчивость к износу и стабильность контакта.
Под заказ
Арт.: D-003
Кельвиновские зонды предназначены для прецизионных измерений методом Кельвина, обеспечивая низкое сопротивление контакта и минимальные потери сигнала.
Они используются для тестирования низкоомных соединений, чипов с высокой чувствительностью и материалов с малым удельным сопротивлением. Совместимы с держателем B-102, который поддерживает заменяемые коаксиальные наконечники.
Они используются для тестирования низкоомных соединений, чипов с высокой чувствительностью и материалов с малым удельным сопротивлением. Совместимы с держателем B-102, который поддерживает заменяемые коаксиальные наконечники.
