Разработанная серия пирамидальных проб-карт серии SiP/SoC P, специально предназначенных для проведения измерений на системах на кристалле (SoC). Они позволяют работать с большими поверхностями пластины, обеспечивая при этом постоянство контакта, имеют отличные параметры проводимости и, кроме того, имеют долгий срок службы. Проб-карты сконструированы для применения как на контактных столбиках, так и на выпуклостях соединённых контактов по методу "flip-chip". Данная серия SiP/SoC P позволяет проводить скорстное тестирование большеформатных интегральных схем с выборкой по кристаллам.
Все покупки на сайте осуществляются с помощью безналичной оплаты.
Все платежи для физических лиц осуществляются через сервис Paykeeper.
Также возможно оформление счета для оплаты от юридического лица (мы работаем с НДС).
Подробная информация на странице «Условия оплаты».
Мы доставляем грузы несколькими транспортными компаниями, подробнее узнать о которых вы можете в разделе «доставка».
Выбрать вариант доставки вы можете при оформлении заказа на сайте, либо связавшись с менеджером
Срок поставки менеджер уточнит после оформления заявки.
Нужна консультация?
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос