Технический семинар компании National Instruments "Разработка и испытания электронных блоков и изделий ЭКБ"
Современные интеллектуальные изделия электроники несут в себе все больше функционала, и их всестороннее тестирование требует не менее интеллектуальных систем для характеризации, валидации, выходного контроля. Большое значение отводится задачам имитации условий и режимов работы изделий в реальном времени. В то же время, временные рамки разработки как самих изделий, так и систем тестирования все более сжимаются, заставляя искать более эффективные пути решения поставленных задач.
Данный семинар является площадкой для обмена информацией о технологиях и решениях, обмена опытом и знаниями для упрощения решения задач разработки современных систем. Инженеры National Instruments расскажут о применяемых подходах и технологических решениях и поделятся практическим опытом решения задач. Также на семинаре будут представлены тематические новинки программных и аппаратных продуктов National Instruments, объявленные за последний год.
Место проведения:
21 февраля 2019 – Новосибирск, Вокзальная магистраль 1. Гостиница Маринс Парк Отель, 2 этаж, конференц-зал "Екатеринбург"
Время проведения: 09:30-14:30
Участие в мероприятии бесплатное, требуется предварительная регистрация. Пожалуйста заполните регистрационную форму онлайн.
По всем вопросам Вы можете обращаться по телефону 8 (923) 733-38-78 или эл. почте chislov@spegroup.ru, Бронислав Числов.
Программа мероприятия:
|
09:30 |
Регистрация участников. Приветственный кофе. |
|
10:00 |
Подход NI к проектированию, макетированию и тестированию электроники на основе гибкой платформы. Современные изделия «умной» электроники выдвигают требования не только быстрой разработки, но и всестороннего моделирования и испытаний изделия в сжатые сроки и с максимальной связанностью этапов. Лидеры отрасли выбирают подход на основе платформы, позволяющий сократить временные и финансовые издержки, связанные с переходами между этапами жизненного цикла изделия. |
|
10:30 |
Типовые решения для входного и выходного контроля ЭКБ. Бюджетные тестеры ЭКБ. Доклад посвящен опыту National Instruments и компаний партнеров в области разработки и применения тестеров ЭКБ, удовлетворяющих требованиям сокращения стоимости на основе платформы PXI, специализированных тестеров или персональных компьютеров. |
|
11:15 |
Опыт быстрого создания исследовательских измерительных систем и систем испытания ЭКБ на воздействие спецфакторов. Модульные приборы формата PXI совместно с программными инструментами LabVIEW позволяют максимально быстро создавать гибкие системы, необходимые как для всесторонней характеризации изделий ЭКБ, так и для специфических испытаний, включая испытания на радиационную стойкость. Доклад посвящен опыту создания и использования таких систем. |
|
12:00 |
Кофе-брейк |
|
12:30 |
Опыт использования платформы NI для программно-аппаратного моделирования СВЧ компонентной базы. Отработочные комплексы и аппаратные имитаторы. Доклад посвящен решениями пользователей NI в области совместного применения средств моделирования и измерительных систем реального времени с ПЛИС для макетирования, полунатурного моделирования и отработки режимов работы СВЧ ЭКБ и радиомодулей связного и аэрокосмического применения. |
|
13:00 |
Системы регистрации и формирования сигналов с встроенной цифровой обработкой на ПЛИС. Новые приборы семейства NI FlexRIO для НИОКР и полевых испытаний. Платформа NI FlexRIO на основе производительных ПЛИС дополняет возможности модульных измерительных приборов NI PXI возможностями встроенной цифровой обработки сигналов. На основе данных модулей создаются сложные системы избирательной регистрации сигналов, формирования ответных сигналов в режиме имитации радиосистем. Доклад посвящен обзору круга задач и новинок данной платформы и смежных приборов. |
|
14:00 |
Ответы на вопросы и обсуждение задач. |
Будем рады видеть Вас в числе гостей.
