Автоматическая зондовая станция Semishare A12 обеспечивает успешное тестирование пластин WAT/CP благодаря точному соединению между датчиком и контактной площадкой пластины.

Электрический сигнал считывается и измеряется с помощью тестера, после чего сигнал контролируется, анализируется и сохраняется в программном обеспечении. Затем результаты оценки передаются обратно в систему для маркировки дефектных чипов (интегральных схем).

Благодаря системе программного управления механическая платформа перемещает зажим к следующей тестируемой микросхеме, а манипулятор автоматически загружает и перемещает пластины между ними, выполняя последовательные циклы тестирования.

Инновационный стол A12 был модернизирован и улучшен в плане автоматической загрузки и перемещения пластин, замкнутого управления движением на микронном уровне, автоматического и точного выравнивания пластин, автоматической и точной визуальной калибровки, высокоскоростной обратной связи, обработки информации и других технологий, что позволило реализовать высокоточную технологию тестирования пластин.

Преимущества Semishare A12 

Эффективность: благодаря нашему собственному интегрированному модулю предварительной настройки пластины можно автоматически перемещать вверх и вниз без риска повреждения. Круглосуточная внутритестовая детекция 7*24 часа обеспечивает безопасную и высокоскоростную передачу данных.

Точность: полностью замкнутая система управления движением на микронном уровне использует оптическую систему позиционирования с новейшими программными алгоритмами обработки изображений, что гарантирует автоматическое и точное позиционирование ланцета.

Совместимость: манипулятор способен работать с различными типами пластин, такими как ультратонкие, острые и тайко, а наша собственная разработка интегрированного шарнира позволяет использовать его с разными основными испытательными машинами для стыковки.

Устойчивость: мобильная платформа патрона обладает высокой прочностью и низким центром тяжести, что позволяет ей выдерживать большие нагрузки от игл во время испытаний.

Классификация в соответствии с тестируемыми образцами

• Тестирование пластин
• LED тест
• Тестирование силового устройства
• Тест MEMS
• Тест PCB
• Тест ЖК-панели
• Тестирование солнечных элементов
• Испытания удельного сопротивления

Классификация в зависимости от области применения

• Радиочастотное (RF) тестирование
• Испытание на воздействие повышенной температуры
• Испытание на низкий ток (уровень 100 кА)
• I-v/c-v/p-iv тесты
• Испытание на высокое напряжение, большой ток
• Испытание в магнитном поле
• Тесты на радиационную обстановку