Системный источник-измеритель высокой плотности SMU 2606B оснащен четырьмя каналами по 20 Вт и размещен в корпусе высотой 1U. Изготовители стараются уменьшить место, занимаемое оборудованием, и снизить затраты (в том числе временные) на тестирование. Прибор 2606B позволяет увеличить плотность оборудования в три раза; он улучшает производительность и сводит к минимуму необходимость добавления новых стоек с тестовым оборудованием. Этот источник-измеритель высокой плотности является идеальным решением для производственных испытаний лазерных диодов, светодиодов, полупроводниковых устройств с двумя или тремя выводами и других изделий.

Какие проблемы решает Keithley 2606B?

• Увеличение количества, а также плотности каналов в измерительной стойке, тем самым сводится к минимуму общая стоимость каждого теста.
• Получение вольтамперных характеристик тестируемого прибора в разных диапазонах температур, а также в разных точках процесса тестирования.
• Обеспечение достоверности измерений для конечного продукта, с приложениями высокого качества и высокой надежности.
• Выявление основных причин сбоя или неисправности тестируемого модуля или прибора.

Уникальные отличия от других приборов серии 2600B

• Конструктивное решение: 4 изолированных канала SMU в шасси высотой 1U. Легко устанавливается на рабочем столе или в стойку без необходимости добавления дополнительного 1U теплового пространства, которое требуется для 2602B.
• Достоверность измерения: встроенные прецизионные источники тока и напряжения, точность измерения 6½ разрядов, с основной погрешностью измерения напряжения не более 0.015%, быстрое время измерения с низким уровнем шума. Полное соответствие измерений с измерительным прибором модели Keithley 2602B. Жесткая синхронизация между каналами.
• Низкая стоимость теста: замена двух приборов Keithley 2602B, без изменения программных TSP-скриптов для тестирования.

Высокая производительность для автоматизированного тестирования с технологией TSP 

Для областей применения, требующих высочайшего уровня автоматизации и пропускной способности, технология TSP обеспечивает высокую производительность – интегрированная система выполняет полные тестовые программы в самом источнике-измерителе 2606B. Это исключает трудоемкую работу на настройке связи по шине с ПК и, таким образом, значительно улучшает общее время тестирования. 

Параллельное тестирование SMU-Per-Pin с технологией TSP-Link 

TSP-Link - это шина расширения канала, которая позволяет соединять или подключать несколько устройств серии 2606B с другими приборами Keithley с поддержкой TSP. Такой комплекс будет функционировать как единая, точно синхронизированная, многоканальная система. 

Технология TSP-Link 2606B работает вместе с технологией TSP для обеспечения высокоскоростного параллельного тестирования SMU-Per-Pin (источник-измеритель на каждый контакт). В отличие от других высокоскоростных решений (например, больших систем ATE), Keithley 2606B достигает производительности параллельного тестирования без затрат или нагрузки на основной блок. 

Система на основе TSP-Link также обеспечивает превосходную гибкость, позволяя быстро и легко переконфигурировать систему при изменении требований к тестированию. 

Конструкция приборов SMU третьего поколения обеспечивает более быстрые сроки испытаний 

Конструкция источников-измерителей 2606B основана на проверенной архитектуре приборов серии 2600B, в которых высокая скорость тестирования обеспечивается благодаря скоростным и плавным переключениям диапазонов, а также быстрой и точной установкой параметров на выходах. 

Keithley 2606B поддерживает два режима работы для различных типов нагрузок. Обычный режим - прибор обеспечивает высокую пропускную способность для максимальной производительности. Режим высокой емкости - прибор использует медленную полосу пропускания, чтобы обеспечить устойчивую производительность при высоких емкостных нагрузках.

Области применения Keithley 2606B

Источник-измеритель Keithley 2606B разработан для применения в области контроля качества, отладки и анализа отказов. Прекрасно показывает себя при работе, например, с кристаллическими пластинами интегральных схем, корпусными компонентами, тестовыми модулями, включающими, в том числе:

• Схемы на кристаллических подложках: Полупроводниковый лазер с вертикальным резонатором и поверхностным излучением, светодиоды, полупроводники с широкой запрещенной энергетической зоной.
• Корпусные компоненты: светодиоды, лазерные диоды, лазеры (VCSEL) для 3D-сканеров и систем телекоммуникации.
• Модульные конструкции: модули лазерных диодов, аналоговые специализированные интегральные схемы, однокристальные системы, дисплеи.