|
Госреестр:№ 75820-19 до: 20.08.2024 |
<br />
Как и остальные модели, эта версия отличается простотой в использовании и высокой скоростью работы. Уже через 30 секунд после загрузки образца можно получить изображение с высоким разрешением.
| Особенности | Оптическая камера: увеличение 3х-16х, цветная Цифровой зум: до 12х Сверхбыстрая загрузка образца: оптическое изображение через 5 секунд после загрузки, электронное изображение - через 60 секунд. |
| Характеристики электронной пушки |
Катод из гексаборида церия CeB6 Ускоряющее напряжение: 5, 10, 15, 20 кВ. Разрешение: <14 нм Увеличение: 100 000x |
| Предметный столик |
Стандартный предметный столик вмещает:- 36 образцов диаметром 12 мм - образец до 100 х 100 мм, высотой до 45 мм Опционально: - Держатели для: наклона, поворота, растяжения, сжатия - Максимальный размер образца: 100 х 100 мм, высотой до 65 мм |
| Рабочая камера | нет |
| Детекторы | Высокочувствительный сегментированный на четыре квадранта детектор обратно рассеянных электронов (композиционный и топографический режимы). Детектор вторичных электронов. |
| Вакуумная система | Держатель для образца является вакуумной камерой. Вакуум достигается за счет мембранного вакуумного насоса. |
| Дополнительные аналитические возможности | Энергодисперсионный микроанализатор (кремниевый дрейфовый детектор), термическое охлаждение без жидкого азота. Столик для испытаний на растяжение/сжатие, нагрузка до 1000 Н, перемещение до 10мм, в комплексе с специализированным программным обеспечением для проведения циклических тестов и сохранения всех параметров испытания. |
| Управление системой | Программный интерфейс на базе специализированного По Phenom для управления микроскопом. Монитор 19", поворотно-нажимная кнопка для управления. Дополнительный монитор, клавиатура, мышь, для управления программным комплексом для микроанализа. |
| Получение изображений | Формат изображения: JPEG, TIFF, BMP. Размер изображения: 456х456, 684х684, 1024х1024, 2048х2048. |
| Доступные программные функции | Программный модуль Pro Sute, который позволяет использовать стандартные приложения: Automated Image Mapping -получение панорамных изображений. Remote User Interface - получение удаленного доступа к микроскопу. 3D Roughness Reconstruction - получение поверхности в виде 3D изображения и измерение шероховатости. Fibermetric - измерение микро и нано волокон. PoroMetric - автоматизированное измерение размеров пор, от 100 нм до 0.1 мм. ParticleMetric - измерение размеров и формы частиц. |
| Системные опции | нет |
| Требования по установке |
Размеры и вес: модуль получения изображения 316(Ш)х587(Г)х625(В) 75 кг, мембранный вакуумный насос 145(Ш)х220(Г)х213(В) 4,5 кг, Источник питания 156(Ш)х300(Г)х74(В) 3 кг, Монитор 375(Ш)х203(Г)х395(В) 7,9 кг, Комплекс ProSute - монитор 19" с мини ПК и сетевым маршрутизатором 375(Ш)х250(Г)х395(В) 9 кг. Температура 15° С ~ 30° С, влажность <80%, электропитание 110-240 В, одна фаза, 50/60 Гц, потребляемая мощность 300 Вт (макс.). Рекомендованный размер стола для установки прибора: 150х75 см, рассчитанный на нагрузку 100 кг. |
Все покупки на сайте осуществляются с помощью безналичной оплаты.
Все платежи для физических лиц осуществляются через сервис Paykeeper.
Также возможно оформление счета для оплаты от юридического лица (мы работаем с НДС).
Подробная информация на странице «Условия оплаты».
Мы доставляем грузы несколькими транспортными компаниями, подробнее узнать о которых вы можете в разделе «доставка».
Выбрать вариант доставки вы можете при оформлении заказа на сайте, либо связавшись с менеджером
Срок поставки менеджер уточнит после оформления заявки.
FEI Company — американская компания, специализирующаяся в области средств электронной микроскопии.
FEI является ведущей компанией, разрабатывающей научное оборудование, электронные и ионно-лучевые микроскопы и другие инструменты для наномасштабных приложений во многих отраслях промышленности: производственные и научные исследования материалов, науки о жизни, полупроводники, хранение данных, природные ресурсы и многое другое.
Инструменты, выпускаемые FEI, включают технологии ионного и электронного пучков, что позволяют пользователям характеризовать, анализировать и оперировать структурами на менее чем суб-ангстремном уровне.
Компания FEI установила стандарт производительности для просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), сканирующих электронных микроскопов (СЭМ) и двулучевых микроскопов, которые сочетают в себе СЭМ со сфокусированным пучком ионов (ФИП). Системы визуализации компании FEI обеспечивают 3D-характеризацию, анализ и модификацию / прототипирование с разрешением до субангстремного уровня.
Нужна консультация?
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос