Спектрометр компактный SOLAR LS S200-MF

S200-MF — это представитель нового поколения спектрометров с высоким пространственным разрешением по всей площади двухкоординатных (матричных) датчиков изображения.

• одновременная регистрация спектров от двух до нескольких десятков световодов;
• получение 2d-изображений в различных оптических системах, включая микроскопы и телескопы;
• полная компенсацией астигматизма (imaging) по всему полю детектора;
• специализированное по для работы с многоканальным излучением;
• встроенная пзс-матрица, спектральный диапазон 200-1100нм;
• встроенный механический затвор для обработки непрерывных сигналов;
• вход синхронизации для работы с импульсным излучением без затвора.

Благодаря инновационной оптической схеме и специально разработанной оптике с коррекцией аберраций оптический спектрометр S200-MF имеет полную компенсацию астигматизма по всей площади светочувствительной зоны детектора. Это позволяет подсоединить к входной щели спектрометра многоволоконный оптический кабель и одновременно получать спектры от нескольких световодов. При использовании стандартных датчиков высотой порядка 6 мм число одновременно анализируемых световодов может достигать нескольких десятков.

Таким образом, с помощью S200-MF Вы можете одновременно регистрировать не один спектр, как в случае традиционного спектрометра, а два, пять, десять, двадцать и более спектров в соответствии с требованиями Вашей аналитической задачи.

Оптический спектрометр S200-MF имеет входную щель фиксированной ширины и может работать как с оптическими волокнами, так и без них. При прямом вводе излучения в спектрометр изображение анализируемого участка объекта проецируется непосредственно на входную щель, а на детекторе спектрометра регистрируется спектральная информация от выбранного участка с высоким пространственным разрешением.

Оптический спектрометр S200-MF обеспечивает плоское поле и идеальное качество изображения в любой точке поля, как в центре детектора, так и по краям. Компактный размер и короткофокусная оптическая схема S200-MF позволяют при необходимости регистрировать достаточно широкий спектральный диапазон, ограниченный только диапазоном спектральной чувствительности детектора.

Оптический спектрометр S200-MF также может быть использован для получения спектральных изображений от линейного участка образца в оптическом микроскопе. При наличии возможности перемещения объекта в поле зрения микроскопа (сканирующий столик XY) могут быть получены 2D-изображения объекта.