Новосибирск
Ваш город ?
Да, все верно Выбрать другой
Идет загрузка, пожалуйста подождите ...
+7 (383) 383-24-06 пн-пт с 10:00 до 18:00 Отправить запрос

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

Выберите рассылку

Компания Rohde & Schwarz представляет тестер чипсетов ГНСС


 Данный тестер был разработан специально для тестирования чипсетов ГНСС и для проведения  тестирования скорости оптимизации (speed-optimized test) при производстве приемников ГНСС.  Тестер поддерживает такие виды стандартов навигационных сигналов как: GPS, ГЛОНАСС, Galileo  и BeiDou. Тестер обеспечивает гибкую настройку навигационных данных и профилей движения  для проверки динамических характеристик приемников ГНСС.Тестер был разработан в тесном  сотрудничестве с компанией Qualcomm и поддерживаются платформой Qualcomm® GNSS RF  Development setup и программным обеспечением QDART™.

 Отличительные особенности прибора:
Тестер предназначен для тестирования чипсетов ГНСС , модулей и приемников
- нацелен на быстрое и параллельное тестирование чувствительности каждой навигационной системы ГНСС с использованием расширенного динамического диапазона до 34 дБ между спутниками.

Дополнительные возможности тестирования чипсетов ГНСС
- например, определение динамических возможностей чипсета для движущегося приемника с различными заданными профилями.

Один спутник для каждого вида навигационной системы
- поддерживаются все стандарты навигационных сигналов: GPS, ГЛОНАСС, Galileo, BeiDou.

Общий ВЧ выход для всех 4-х стандартов навигационных сигналов.

Генерация немодулированного сигнала в широком динамическом от -145 до +18 дБм и частотном от 9 кГц до 3,2 ГГц диапазоне, который может быть использован для калибровки.

За консультацией и по вопросам приобретения оборудования Вы можете обратиться к нашим специалистам - sales@spegroup.ru


Возврат к списку

Нашли ошибку? Ctrl + Enter
наверх