Функции и применение
Рентгеновский аппарат с технологией быстрой смены рентгеновских трубок. Применяется в старших классах школ, и высших учебных заведений.
Особенности
- Базовый блок с микропроцессорным управлением и двумя независимыми контурами безопасности для контроля закрытия дверки.
- Возможность применгения с разными рентгеновскими трубками (Fe, Cu, Mo, W), не входят в состав поставки.
- Определение интенсивности рентгеновского излучения с помощью встроенной счетной трубки Гейгера-Мюллера, переменное напряжение счетной трубки (0 ... 600 В), встроенный громкоговоритель.
- Цветной дисплей для ручного управления устройством.
- Цветное линейное светодиодное внутреннее освещение.
- Три смотровых окна.
- Встроеннная шублятка для хранения дополнительных принадлежностей.
Необходимые принадлежности
Для первого применения требуется по крайней мере одна из 4 рентгеновских трубок (Fe, Cu, Mo, W).
|
Параметр |
Значение |
|
Дисплей |
|
|
Напряжение |
5.0...35.0 кВ с шагом 0.1 кВ |
|
Эмиссионный ток |
0,01...1,0 мА с шагом 0,01 мА |
|
Размер корпуса |
446 x 562 x 682 мм |
|
Размер внутренний |
440 x 345 x 354 мм |
|
Подключение |
110/240 В~, 50/60 Гц |
|
Потребление электроэнергии |
200 ВА |
|
Масса |
55 кг |
|
Подключение к компьютеру |
через USB 2.0 |
Объем поставки
|
Наименование |
Кат.номер |
Количество |
|
Защитный чехол для рентгеновской установки |
09057-49 |
1 |
|
XR 4.0 Программное обеспечение для рентгеновской установки 35 кВ |
14414-61 |
1 |
|
TESS expert Physics Handbook X-ray Experiments for XR 4.0 expert unit, (по-английски) |
01200-02 |
1 |
|
Handbuch Lehrerversuche mit Röntgenstrahlung für die XR 4.0 expert unit, TESS expert Physik, (на немецком) |
01200-01 |
1 |
|
Кабель передачи данных, USB штекер А/В, 1,8 м |
14608-00 |
1 |
|
Переходник для сетевого соединительного кабеля, 1,5 м |
07349-00 |
1 |
Эксперименты
|
Наименование |
Кат.номер |
|
Дозиметрия рентгеновского излучения |
P2541805 |
|
Характеристики трубки счетчика Гейгера-Мюллера |
P2540015 |
|
Рентгенографическое исследование объектов |
P2540025 |
|
Качественное исследование поглощения рентгеновских лучей |
P2540035 |
|
Ионизирующий эффект действия рентгеновского излучения |
P2540045 |
|
Характеристическое рентгеновское излучение молибдена |
P2540205 |
|
Характеристическое рентгеновское излучение железа |
P2540305 |
|
Зависимость интенсивности характеристического рентгеновского излучения от силы тока и напряжения на аноде |
P2540405 |
|
Монохроматизация рентгеновских лучей молибдена |
P2540505 |
|
Монохроматизация рентгеновских лучей меди |
P2540605 |
|
K-альфа дублетное расщепление рентгеновских лучей молибдена / тонкая структура |
P2540705 |
|
K-альфа дублетное расщепление рентгеновских лучей железа / тонкая структура |
P2540805 |
|
Закон смещения смещения Дуэйна-Ханта и постоянная Планка |
P2540905 |
|
Характеристические рентгеновские линии различных анодных материалов / закон Мозли |
P2541005 |
|
Поглощение рентгеновских лучей |
P2541105 |
|
Изучение структуры монокристаллов NaCl с различными ориентациями |
P2541305 |
|
Рентгеновское изучение кубических кристаллических структур / порошковый метод Дебая-Шерера |
P2541405 |
|
Рентгеновское изучение гексагональных кристаллических структур / метод Дебая-Шерера |
P2541505 |
|
Рентгеновское изучение кристаллических структур / метод Лауэ |
P2541605 |
|
Рентгеновское исследование кристаллических структур / метод Лауэ с цифровым датчиком рентгеновского изображения (XRIS) |
P2541606 |
|
Комптоновское рассеяние рентгеновских лучей |
P2541705 |
|
Использование контрастного вещества в модели кровеносного сосуда |
P2541905 |
|
Определение длины и положения невидимого объекта |
P2542005 |
|
Дифрактограммы Дебая - Шеррера порошковых образцов - с тремя кубическими решетками Браве |
P2542105 |
|
Дифрактограммы Дебая - Шеррера порошковых образцов - с алмазной структурой (по Брэггу-Брентано) |
P2542205 |
|
Дифрактограммы Дебая - Шеррера порошковых образцов - с гексагональной структурой кристаллической решетки |
P2542305 |
|
Дифрактограммы Дебая - Шеррера порошковых образцов с кубической структурой кристаллической решетки |
P2542505 |
|
Дифракционные измерения для определения интенсивности отражений Дебая-Шеррера на кубическом порошковом образце (Геометрия Брегга-Бертранно) |
P2542605 |
|
Дифрактометрические измерения методом Дебая-Шеррера для изучения структуры прокатного железа |
P2542705 |
|
Характеристическое рентгеновское излучение вольфрама |
P2542805 |
|
Рентгеновская спектроскопия - калибровка энергитического детектера |
P2544005 |
|
Разрешение энергетического детектора |
P2544105 |
|
Собственное флуоресцентное излучение энергетического детектора |
P2544205 |
|
Качественный рентгенофлуоресцентный анализ легированных материалов |
P2544605 |
|
Качественный рентгенофлуоресцентный анализ растворов |
P2544805 |
|
Качественный рентгенофлуоресцентный анализ образцов руды |
P2544905 |
|
Количественный рентгенофлуоресцентный анализ легированных материалов |
P2545005 |
|
Количественный рентгенофлуоресцентный анализ растворов |
P2545105 |
|
Рентгеновская флуоресцентная спектроскопия - определение толщины слоя |
P2545205 |
|
Эффект Комптона - прямое измерение дисперсионного поглощения |
P2546005 |
|
Определение постоянной решетки монокристалла |
P2546205 |
|
Закон смещения Дуэйна-Ханта |
P2546305 |
|
Компьютерная томография |
P2550105 |
|
Принципы цифровой рентгенографии |
P2550106 |
|
Принципы рентгеновского ослабления и контраста |
P2550205 |
|
Основы радиоактивности |
P2550305 |
|
Основные принципы разрешения и обнаружения |
P2550405 |
|
Настройка камеры |
P2550605 |
|
Оптимизация качества компьютерной томаграфии (КТ) |
P2550705 |
|
Лучевое упрочнение и металлические артефакты |
P2550805 |
|
Шкала Хаунсфилда |
P2550905 |
|
K- и L-края поглощения рентгеновских лучей /закон Мозли и постоянная Ридберга |
P2541205 |
|
Качественный рентгенофлуоресцентный анализ порошковых образцов |
P2544705 |
|
Измерения дисперсионного поглощения K- и L-краев поглощения рентгеновского излучения |
P2546105 |
|
Характеристическое рентгеновское излучение меди |
P2540105 |
|
Качественная рентгеновская флуоресцентная спектроскопия металлов - закон Мозли |
P2544505 |
|
Принципы компьютерной томаграфии (КТ) |
P2550505 |
Все покупки на сайте осуществляются с помощью безналичной оплаты.
Все платежи для физических лиц осуществляются через сервис Paykeeper.
Также возможно оформление счета для оплаты от юридического лица (мы работаем с НДС).
Подробная информация на странице «Условия оплаты».
Мы доставляем грузы несколькими транспортными компаниями, подробнее узнать о которых вы можете в разделе «доставка».
Выбрать вариант доставки вы можете при оформлении заказа на сайте, либо связавшись с менеджером
Срок поставки менеджер уточнит после оформления заявки.
Отто Хан, Лиза Мейтнер, Макс Планк, Вернер Гейзенберг, Карл Фридрих Гаусс и другие известные на весь мир ученые работали в Гёттингене. Город, который может похвастаться самым большим числом лауреатов Нобелевской премии, стал домом и для PHYWE.
Уже более 100 лет PHYWE занимается разработкой, производством, поставками и установкой
- учебного оборудования
- экспериментальных систем
- комплексных решений
в школы и университеты.
Мы предлагаем современные учебные, экспериментальные системы с дидактической поддержкой, цифровые лаборатории, а также программное обеспечение и широкий спектр услуг, включающий обучающие курсы, установку и консультации.
Наша цель - максимально оптимизировать процесс преподавания и обучения для формирования интеллектуального, независимого и передового общества. Именно поэтому мы постоянно работаем над усовершенствованием нашей продукции, пристально следя за разработками в сфере обучения и исследований на мировом рынке и продолжая пополнять нашу программу инновационной продукцией в сфере обучения.
Благодаря качеству и надежности мы стали одним из ведущих мировых разработчиков, производителей и поставщиков учебного оборудования и систем для изучения физики, химии, биологии и других прикладных наук.
Свыше 145 000 покупателей из более чем 95 стран по достоинству оценили наш опыт и надежность, высокие стандарты применяемых технологий, а также инновационную, удобную в использовании, продукцию.
PHYWE - это надежный партнер для школ, училищ, университетов, частных учебных заведений и научных учреждений по всему миру
Нужна консультация?
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос