Принцип
Диаграммы Лауэ получают при облучении монокристаллов полихроматическим рентгеновским излучением. Этот метод в основном используется для определения симметрии и ориентации кристаллов. Когда монокристалл LiF облучают полихроматическим рентгеновским излучением, получается характерная дифракционная картина. В эксперименте этот образец фотографируется, а затем оценивается.
Задание
- Запишите на пленке дифракцию Лауэ монокристалла LiF.
- Соотнесите индексы Миллера соответствующих кристаллических поверхностей к отражениям Лауэ.
Цели обучения
- Кристаллические решетки.
- Кристаллические системы.
- Классы кристаллов.
- Решетка Браве.
- Обратная решетка.
- Индексы Миллера.
- Амплитуда структуры.
- Атомный форм-фактор.
- Уравнение Брэгга.
Объем поставки
Наименование |
Кат.номер |
Количество |
XR 4.0 X-ray Базовая рентгеновская установка, 35 кВ |
09057-99 |
1 |
XR4 Съёмная рентгеновская трубка Plug-in Cu tube |
09057-51 |
1 |
XR 4.0 Рентгеноструктурный анализ, расширение |
09145-88 |
1 |
Все покупки на сайте осуществляются с помощью безналичной оплаты.
Все платежи для физических лиц осуществляются через сервис Paykeeper.
Также возможно оформление счета для оплаты от юридического лица (мы работаем с НДС).
Подробная информация на странице «Условия оплаты».
Банковские карты
Мы доставляем грузы несколькими транспортными компаниями, подробнее узнать о которых вы можете в разделе «доставка».
Выбрать вариант доставки вы можете при оформлении заказа на сайте, либо связавшись с менеджером
Срок поставки менеджер уточнит после оформления заявки.