|
Госреестр:№ 81247-21 до: 15.03.2026 |
| Особенности |
Лучшие в отрасли оптические показатели: линза объектива постоянной мощности A-TWIN · Максимальное удобство в использовании: быстрый и простой переход между операциями, подходит для многопользовательской эксплуатации · Сверхстабильная платформа: линза объектива постоянной мощности, предметный столик с пьезоэлектрическим приводом, жёсткий защитный корпус системы и возможность дистанционного управления обеспечивают максимальную стабильность работы прибора · Камера SmartCam: цифровая камера, работающая по принципу «нашёл и посмотрел», упрощает работу всех приложений и позволяет работать в условиях дневного света · Полностью интегрированный быстрый детектор: CMOS-камера Ceta 16 Мп обеспечивает широкую зону видимости и высокую скорость считывания (2 кадра/с при разрешении 4K и 18 кадров/с при разрешении 1K) · Полностью дистанционное управление: автоматическая система настройки апертуры в сочетании с камерой Ceta поддерживает функцию полностью дистанционного управления · Расширенные аналитические возможности: благодаря применению линз A-TWIN микроскоп Talos позволяет расширить аналитические возможности в трёхмерных объёмах посредством EDX- томографии |
| Характеристики электронной пушки |
Разрешение STEM HAADF: 0,16 нм Информационный предел TEM: 0,12 нм Разрешающая способность TEM по точкам: 0,25 нм Диапазон увеличения STEM: 150×–230M× Диапазон увеличения TEM: 25×–1,50M× Яркость X-FEG: 1,8 x 109 A/см2/стерадиан (при 200 кВ) Суммарный ток пучка: > 50 нA Ток зонда: 0,4 нA в зонде 0,31 нм (при 200 кВ) 1,5 нA в зонде 1,0 нм (при 200 кВ) |
| Предметный столик |
Максимальный дифракционный угол: ± 12˚ Максимальный угол наклона с двойным наклонным держателем: ± 30˚ Максимальный гониометрический угол наклона (предметного столика): ± 90˚ |
| Рабочая камера | Длина камеры: 12–5100 мм |
| Детекторы |
EDS-система Super-X: Симметричная безоконная конструкция с 2 или 4 SDD-детекторами с защитной заслонкой Энергетическое разрешение: Быстрая EDS-съёмка: Пиксельное время выполнения операции понижено до 10 мкс Телесный угол EDX: 0,45/0,9 стерадиан |
Все покупки на сайте осуществляются с помощью безналичной оплаты.
Все платежи для физических лиц осуществляются через сервис Paykeeper.
Также возможно оформление счета для оплаты от юридического лица (мы работаем с НДС).
Подробная информация на странице «Условия оплаты».
Мы доставляем грузы несколькими транспортными компаниями, подробнее узнать о которых вы можете в разделе «доставка».
Выбрать вариант доставки вы можете при оформлении заказа на сайте, либо связавшись с менеджером
Срок поставки менеджер уточнит после оформления заявки.
FEI Company — американская компания, специализирующаяся в области средств электронной микроскопии.
FEI является ведущей компанией, разрабатывающей научное оборудование, электронные и ионно-лучевые микроскопы и другие инструменты для наномасштабных приложений во многих отраслях промышленности: производственные и научные исследования материалов, науки о жизни, полупроводники, хранение данных, природные ресурсы и многое другое.
Инструменты, выпускаемые FEI, включают технологии ионного и электронного пучков, что позволяют пользователям характеризовать, анализировать и оперировать структурами на менее чем суб-ангстремном уровне.
Компания FEI установила стандарт производительности для просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), сканирующих электронных микроскопов (СЭМ) и двулучевых микроскопов, которые сочетают в себе СЭМ со сфокусированным пучком ионов (ФИП). Системы визуализации компании FEI обеспечивают 3D-характеризацию, анализ и модификацию / прототипирование с разрешением до субангстремного уровня.
Нужна консультация?
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос