Артикул:
PRISMAE
Цена по запросу
Варианты цен
Цена по запросу
Под заказ
В корзину
Купить в 1 клик
СЭМ Prisma E предлагает всестороннюю производительность в области визуализации и аналитики, уникальный режим естественной среды (ESEM) и полный набор аксессуаров, которые делают его самым полноценным СЭМ с высокоэффективной термоэмиссией, катодом из вольфрамовой нити.
Микроскоп имеет электронную пушку, обеспечивающую разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума при 30 кВ. Отличная разрешающая способность сочетается с высоким контрастом изображения, благодаря наличию передовых и сверхчувствительных детекторов. Три вакуумных режима (высокий вакуум, низкий вакуум и ESEM) позволяют анализировать практически любой образец, в том числе и влажные образцы
Микроскоп имеет электронную пушку, обеспечивающую разрешение до 3 нм в режиме высокого вакуума при 30 кВ. Отличная разрешающая способность сочетается с высоким контрастом изображения, благодаря наличию передовых и сверхчувствительных детекторов. Три вакуумных режима (высокий вакуум, низкий вакуум и ESEM) позволяют анализировать практически любой образец, в том числе и влажные образцы
| Особенности | Prisma E – сканирующий электронный микроскоп, который обеспечивает полное представление о любом образце: изображения в композиционном и топографическом режимах можно легко дополнить определением свойств материала и его элементного состава, установив вспомогательное оборудование. Разрешение электронного микроскопа достигает 3 нм, а возможность работы в режиме, как высокого вакуума и низкого вакуума, так и в режиме «естественной среды» позволяют работать практически с любыми образцами. Отвечая на вызовы научной работы наших дней, микроскопы серии Prisma не ограничивают исследователя, позволяя получать высококачественные изображения и достоверные результаты анализа при работе с самыми сложными материалами. |
| Характеристики электронной пушки |
Разрешение электронной оптики • Высокий вакуум: – 3.0 нм при 30 кВ (SE) – 4.0 нм при 30 кВ (BSE)* – 8.0 нм при 3 кВ (SE) • Высокий вакуум с режимом торможения луча – 7.0 nm @ 3 kV (BD mode* + DBS*) • Низкий вакуум: – 3.0 нм при 30 кВ (SE) – 4.0 нм при 30 кВ (BSE) – 10 нм при 3 кВ (SE) • ESEM – 3.0 нм при 30 кВ (SE) Параметры электронного луча • Диапазон тока пучка: до 2 мкА, непрерывно регулируемый • Диапазон ускоряющего напряжения: 200 В - 30 кВ • Увеличение: от 6 до 1 000 000x |
| Предметный столик |
Эвцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик Перемещение в плоскости XY: 110 x 110 мм Моторизованное перемещение по оси Z: 65 мм (зазор 85 мм до точки эвцентрики) Воспроизводимость результатов: < 3.0 мкм (при 0°) Эвцентрический наклон на высоте, оптимальной для решения аналитических задач: 10 мм Поворот: n x 360° Наклон: -15° / +90° |
| Рабочая камера |
• Ширина: 340 мм • Аналитическое рабочее расстояние 10 мм • Количество портов: 12 • Угол выхода для детектора EDS: 35° |
| Детекторы |
Prisma E одновременно выводит до четырех сигналов из любой комбинации доступных детекторов или сегментов детектора: • ETD – Детектор вторичных электронов Эверхарта-Торнли • Низковакуумный детектор вторичных электронов (LVD) • Газовый детектор вт. эл. (GSED) (используется в ESEM) • ИК-камера для наблюдения за позиционированием образца • Nav-Cam™: цветная оптическая навигационная камера • DBS – направленный детектор обратно рассеянных электронов; выдвижной или монтируемый на линзу. • DBS-GAD – Налинзовый газовый аналитический детектор • ESEM-GAD детектор SE (вторичных) и BSE (обратно рассеянных) электронов при высоких давлениях • STEM 3+ – выдвижной сегментированный детектор для\ прошедших электронов (BF, DF, HADF, HAADF)* • WetSTEM™ – Стол для охлаждения интегрированный с STEM для наблюдения тонких влажных образцов * • RGB-CLD – цветной детектор катодолюминесценции |
| Вакуумная система |
• Измерение тока пучка электронов и вакуумной системы • 1 × 250 литров/с TMН, 1 × форвакуумный насос • Запатентованная дифференциальная откачка через линзу • Длина пути прохождения луча: 10 мм или 2 мм • Время откачки: ≤ 3,5 минуты до высокого вакуума и ≤ 4,5 минуты до ESEM • Дополнительно: холодная ловушка CryoCleaner • Дополнительно: обновление до безмасляной системы откачки |
| Дополнительные аналитические возможности |
• EDS • WDS • EBSD • Криостолик • Катодолюминесценция • Прибор для измерения малых токов образца • Наноманипуляторы • Системы для литографии • CAD-навигация • Электрическое зондирование |
| Управление системой |
• Графический интерфейс с Windows 10 х64, клавиатура, мышь • 24-дюймовый ЖК-дисплей, WUXGA 1920 × 1200 (второй монитор опционально) • Настраиваемый графический интерфейс пользователя, с одновременным активным просмотром до 4 изображений • Регистрация изображений • Навигационный монтаж • Программное обеспечение для анализа изображений • Функции отмены / повтора • Руководство пользователя для основных операций/приложений • Опционально: джойстик • Опционально: пользовательский интерфейс (панель управления) |
| Получение изображений |
• Диапазон времени задержки от 25 нс до 25 мс / пиксель • До 6144 × 4096 пикселей • Тип файла: TIFF (8, 16, 24 бит), JPEG или BMP • Отображение изображения в одном кадре или в 4-х • SmartSCAN (усреднение 256-кадров или интеграция, интеграция строк и усреднение, чересстрочное сканирование) • DCFI (компенсация дрейфа интеграцией кадров) |
| Доступные программные функции |
• Технология сканирования SmartSCAN • Автоматическая сшивка изображений • Программное терморегулирование • Интервальное получение изображений в 1–4 квадрантах • Функция сохранения нескольких изображений • Программная утилита FEI Movie Creator (создание специального .avi-файла на основе автоматически полученной серии TIFF-изображений) • Функциональные возможности большого окна изображения (отображает изображение на отдельном мониторе, обеспечивает возможность отображения двух полноэкранных изображений, полученных от различных детекторов) |
| Системные опции |
In-situ аксессуары (дополнительно) • Программно управляемый стол Пельтье -20°C до +60°C • -//- нагревательный стол до 1000°C для ESEM • -//- нагревательный стол до 1100°C для высокого вакуума • -//- прецизионный нагревательный стол до 1200°C (μHeater) • -//- нагревательный стол до 1400°C для ESEM • Манипуляторы • Крио столик • Электрические зондирующие / многозондовые станции Системные опции • Торможение луча с параметрами смещения: -4000 В to +50 В • Быстрый прерыватель луча • Очистка образца / камеры: CryoCleaner, встроенный плазменный очиститель • QuickLoader™: шлюз для быстрой загрузки образцов • Вспомогательный компьютер • Панель управления • Джойстик • Анализаторы: EDS, EBSD, WDS, CL, Raman • Интегрированный 16-битный паттерн-механизм, электронные модули для литографии • Измерение тока на с образца • Набор держателей для образцов |
| Требования по установке |
(Подробные данные см. в руководстве по предварительной установке) • Мощность: - Напряжение 100 - 240 В переменного тока (-6%, + 10%) - Частота 50 или 60 Гц (± 1%) - Потребление: <3,0 кВА для базового микроскопа • Сопротивление заземления <0,1 Ом • Окружающая среда: - Температура (20 ± 5) ° - Относительная влажность ниже 80% - Плавные переменные магнитные поля <100 нТ асинхронные, <300 нТ синхронно для линий, 20 мс (сеть 50 Гц) или 17 мс (сеть 60 Гц) • Минимальный размер двери: 0,9 м в ширину × 1,9 м • Вес: консоль с колонной 550 кг • Сухой азот рекомендуется для вентиляции • Сжатый воздух 4-6 бар - чистый, сухой и безмасляный • Акустика: <68 дБВ (исследование участка требуется в зависимости от спектра акустики) • Вибрации на месте: требуется исследование площадки на соответствующий спектр вибрации пола • Опционально: антивибрационная платформа |
Все покупки на сайте осуществляются с помощью безналичной оплаты.
Все платежи для физических лиц осуществляются через сервис Paykeeper.
Также возможно оформление счета для оплаты от юридического лица (мы работаем с НДС).
Подробная информация на странице «Условия оплаты».
Мы доставляем грузы несколькими транспортными компаниями, подробнее узнать о которых вы можете в разделе «доставка».
Выбрать вариант доставки вы можете при оформлении заказа на сайте, либо связавшись с менеджером
Срок поставки менеджер уточнит после оформления заявки.
FEI Company — американская компания, специализирующаяся в области средств электронной микроскопии.
FEI является ведущей компанией, разрабатывающей научное оборудование, электронные и ионно-лучевые микроскопы и другие инструменты для наномасштабных приложений во многих отраслях промышленности: производственные и научные исследования материалов, науки о жизни, полупроводники, хранение данных, природные ресурсы и многое другое.
Инструменты, выпускаемые FEI, включают технологии ионного и электронного пучков, что позволяют пользователям характеризовать, анализировать и оперировать структурами на менее чем суб-ангстремном уровне.
Компания FEI установила стандарт производительности для просвечивающих электронных микроскопов (ПЭМ), сканирующих электронных микроскопов (СЭМ) и двулучевых микроскопов, которые сочетают в себе СЭМ со сфокусированным пучком ионов (ФИП). Системы визуализации компании FEI обеспечивают 3D-характеризацию, анализ и модификацию / прототипирование с разрешением до субангстремного уровня.
Нужна консультация?
Наши специалисты ответят на любой интересующий вопрос
Задать вопрос
