+7 (383) 383-24-06 пн-пт с 10:00 до 18:00 Отправить запрос

Семинар «Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов», ИЯФ СО РАН, 19-20 марта

05.03.2019

Семинар «Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов», ИЯФ СО РАН, 19-20 марта

Институт Ядерной Физики СО РАН совместно с группой компаний «Научное оборудование» и компанией «Мелитэк» приглашает Вас принять участие в научно-практическом семинаре на тему «Новейшие разработки в области аналитического оборудования для исследования и контроля качества материалов».

Место проведения: ИЯФ СО РАН, пр. Ак. Лаврентьева, 11

Даты: 19 и 20 марта 2019 года


Для участия просим вас зарегистрироваться до 18 марта 2019 года

Ссылка для регистрации: https://indico.inp.nsk.su/event/18/registration/register#/register

В программе предусмотрен мастер-класс для индивидуальной работы с Вашими образцами!


19 марта

Конференц-зал, главный корпус, 4 этаж

Начало

Наименование доклада

Докладчик

9-30

Регистрация участников

 

10-00

Приветственное слово

Гольденберг Борис Григорьевич, сотрудник проектного офиса СКИФ, к.т.н.

Высоцкая Александра Евгеньевна, заместитель директора ГК «Научное оборудование»

10-10

Новые портативные спектрометры серии S1 TITAN, TRACER 5i и EOS для быстрого анализа различных материалов. «Bruker» (Германия)

Семенова Юлия

10-40

Модельный ряд рентгенофлуоресцентных спектрометров компании «Bruker» (Германия)

Александр Шевчуков

11-20

Кофе-брейк

 

11-40

Современные оптико-эмиссионные анализаторы сталей и сплавов производства компании «Bruker» (Германия)

Семенова Юлия

12-00

Эффективные решения в области механических испытаний на базе универсальных машин компании «Walter + Bai AG» (Швейцария).

Конструктивные особенности модельного ряда и его применение.

12-30

Модельный ряд твердомеров компании Emco-Test Prufmaschinen GmbH (Австрия). Современные технологии автоматического измерения твердости.

13-00

Обед

 

14-00

Модельный ряд микроскопов Olympus (Япония) для материаловедения.

Калинченко Антон

14-45

Обзор современного оборудования для пробоподготовки компании «Struers» (Дания)

15-20 до 16-00

Оборудование для исследования физических свойств поверхности компании Nanovea (США)

20 марта

Конференц. зал, главный корпус, 4 этаж

Начало

Наименование доклада

Докладчик

9-30

Регистрация участников

 

10-00

Приветственное слово

Гольденберг Борис Григорьевич, сотрудник проектного офиса СКИФ, к.т.н.

Высоцкая Александра Евгеньевна, заместитель директора ГК «Научное оборудование»

10-10

Рентгеновские дифрактометры компании «Bruker».

Голованов Денис

11-00

Оборудование для рентгенографии и компьютерной томографии NSI (США). Решения для металлургии и геологии

Семенова Юлия

11-20

Кофе-брейк

 

11-40

Сканирующие электронные микроскопы для работы с любыми образцами, компания «Thermo Fisher Scientific»

Ханин Виталий

12-10

Универсальные и продвинутые двухлучевые системы

12-40

Просвечивающие электронные микроскопы сверхвысокого разрешения

13-20

Дополнительное оборудование и пробоподготовка для электронной микроскопии

 

Мастер-класс

«Практическое применение. Индивидуальная работа с Вашими образцами».

19-20 марта 2019 года, с 10-00 до 17-00

 

331 кабинет, переход главного корпуса, 3 этаж

Оборудование для индивидуальной работы с Вашими образцами

S1 Titan

Портативный рентгенофлуоресцентный спектрометр компании «Bruker», Германия

LEXT

Сканирующий лазерный микроскоп компании Olympus, Япония

ВХ53

Оптический микроскоп компании Olympus, Япония

Демонстрационное оборудование

Tegramin 30

Шлифовально-полировальный станок компании Struers, Дания

Участие в мастер классе по предварительной записи при регистрации.

Рекомендованное количество образцов для анализа: не более 2-х.

Участие бесплатное, количество участников ограничено.

Представленные модели оборудования для участия в мастер-классе доступны оба дня.

Имеется возможность направить образцы в демо-зал для исследований с предоставлением индивидуального отчета (пробоподготовка, испытания, анализ)


Для участия просим вас зарегистрироваться до 18 марта 2019 года

Ссылка для регистрации: https://indico.inp.nsk.su/event/18/registration/register#/register

Если у Вас есть вопросы или пожелания к содержанию семинара, докладчикам, просим обращаться:

Гольденберг Борис Григорьевич: +7 (913) 719-45-37, goldenberg@ngs.ru

Хомиченко Наталья: +7 (923) 253-88-69, khomichenko@spegroup.ru


Надеемся увидеть Вас в числе гостей.

Будем рады направить дополнительную информацию и ответить на любые интересующие Вас вопросы.


Возврат к списку

Нашли ошибку? Ctrl + Enter
наверх