В корзине пусто

Тел./факс:

Новости

15.02.2018 Генераторы произвольной формы АКИП-3422

Ф

 

События

17.01.2018 Основы разработки и тестирования преобразователей электрической энергии, Новосибирск

Группа компаний "Научное оборудование" и компания Keysight Technologies (ранее Группа электронных измерений Agilent) приглашают Вас 6 февраля 2018 г. на семинар «Основы разработки и тестирования преобразователей электрической энергии» в рамках серии семинаров HOTSPOTS.

Б Ф Х Г

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Сканирующий электронный микроскоп FEI Apreo

Комбинированная линза Apreo позволяет получать беспрецедентное разрешение и материальный контраст за счет сочетания электростатической и магнитной иммерсионной технологий. Apreo это высокопроизводительная платформа для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств, в том числе, для работы с магнитными образцами.


Добавить в мои товары

Получив ваш запрос, наш менеджер свяжется с вами для уточнения деталей. Вы также можете связаться с менеджером по телефону: +7 (383) 383-24-06

 

FEI является ведущей компанией, разрабатывающей научное оборудование, электронные и ионно-лучевые микроскопы и другие инструменты для наномасштабных приложений во многих отраслях промышленности: производственные и научные исследования материалов, науки о жизни, полупроводники, хранение данных, природные ресурсы и многое другое.

Самый универсальный высокопроизводительный сканирующий электронный микроскоп!

Комбинированная линза Apreo позволяет получать беспрецедентное разрешение и материальный (Z) контраст за счет сочетания электростатической и магнитной иммерсионной технологий.

Apreo это высокопроизводительная платформа для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств, в том числе, для работы с магнитными образцами. Традиционные сканирующие электронные микроскопы высокого разрешения обладают либо электростатическими линзами, либо с магнитной иммерсией. Впервые FEI объединяет оба способа в одном инструменте. Преимущества данной компоновки выходят далеко за рамки производительности любой другой колонны. И тот и другой метод служит для формирования пучка в тонкий зонд для получения изображения при низких ускоряющих напряжениях и направления детектируемых электронов обратно через линзу в колонну. За счет комбинации магнитной и электростатической иммерсии в одной электронной пушке достигается более высокая разрешающая способность и добавляются уникальные возможности для фильтрации сигнала. Комбинированная электростатически-магнитная конечная линза обеспечивает разрешение 1,0 нм при 1 кВ (без активации функции замедления пучка или монохроматора).

Основные преимущества:

  • Уникальная комбинированная конечная линза обеспечивает исключительную разрешающую способность 1
    нм на 1 кВб без необходимости использования торможения пучка – на любом образце, даже если он наклонен или
    имеет развитую поверхность.
  • Производительный детектор обратно отраженных электронов гарантирует великолепный материальный
    контраст, даже на низких ускоряющих напряжениях и силах тока – на любом угле наклона – даже на
    чувствительных к электронному пучку образцах и на телевизионной развертке.
  • Беспрецедентная гибкость выбора режимов работы детектора позволяет пользователю получать контраст или
    интенсивность сигнала путем объединения информации из отдельных сегментов детектора.
  • Самый широкий спектр способов снижения зарядки поверхности, включая режим низкого вакуума с давлением
    внутри камеры до 500 Па, что позволяет получать изображение с любого образца.
  • Превосходная аналитическая платформа обеспечивает высокие токи пучка и малый размер пятна. Камера
    позволяет устанавливать одновременно до трех EDS детекторов, копланарность EDS и EBSD детекторов и
    оптимизированный для аналитики режим низкого вакуума.

Характеристика

Значение

Характеристика

Значение

Электронная оптика

Термополевой эмиттер Шоттки. Диапазон тока пучка: от 0,1 пА до 400 нA

В режиме низкого вакуума, оптимальной рабочей дистанцией, режим без поля

- 1,2 нм при 15 кВ

- 1,8 нм при 3 кВ

Разрешение, нм:

 

Столик:

 

Высокий вакуум с оптимальной рабочей дистанцией, иммерсионный режим

- 0,8 нм при 30кВ (STEM)

- 0,9 нм при 15 кВ

- 1,0 нм при 1 кВ

- 1,2 нм при 500 В

- 2,5 нм при 100 В

Тип

Эвцентрический с гониометром, моторизованный по 5 осям

Перемещение по осям XY

110 мм х 110 мм

Повторяемость

< 3,0 мкм (при наклоне 0˚)

Моторизованное перемещение по оси Z

65 мм

Высокий вакуум с оптимальной рабочей дистанцией, режим без поля

- 0,8 нм при 30 кВ (STEM)

- 1,0 нм при 15 кВ

- 1,3 нм при 1 кВ

Вращение

n х 360˚

Наклон

-15˚…+90˚

Максимальная высота образца

Зазор до 85 мм в точке эксцентрики

Диапазон энергий

От 20 В до 30 кВ

Максимальная масса образца

500 г при любом положении столика

(до 2 кг при наклоне 0˚)

Функция замедления пучка

от -4000 В до +600 В

Максимальный размер образца

Диам. 122 мм для вращения при любых перемещения по Х,У (возможна работа и с большими образцами, но в условиях ограниченного вращения)

Apreo может регистрировать до четырех сигналов одновременно из любой комбинации из имеющихся детекторов или сегментов детектора.