В корзине пусто

Тел./факс:

Новости

18.07.2018 Tektronix добавляет декодирование сигналов протокола SPMI в осциллографы MSO серий 5 и 6 для ускорения отладки мобильных устройств

Решение предлагает настройку простым касанием, декодирование и запуск по сигналам шины управления питанием для непревзойденного глубокого анализа сигналов и повышения производительности измерений

Ф

 

События

08.05.2018 Leybold. Вакуумное оборудование для лабораторного и промышленного применения

Группа компаний "Научное оборудование" и ООО "Лейфикон Вакуум Сервис", официальный представитель компании Leybold в России, приглашают Вас принять участие в серии семинаров "Leybold. Вакуумное оборудование для лабораторного и промышленного применения", которые пройдут в Новосибирске и Зеленогорске с 14 по 18 мая 2018 года.

Ф Г

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Рентгеновский дифрактометр Bruker D8 DISCOVER

D8 DISCOVER имеет специализированные конфигурации для рефлектометрии и прецизионных исследований. D8 DISCOVER может быть использован как в промышленности, так и для решения научных задач в том числе: контроль качества, разработка новых технологий изготовления тонких пленок, эпитаксиальных слоев, материалов для микро и наноэлектроники.


Добавить в мои товары

Получив ваш запрос, наш менеджер свяжется с вами для уточнения деталей. Вы также можете связаться с менеджером по телефону: +7 (383) 383-24-06

 

Компания Bruker специализируется на разработке спектрального аналитического оборудования для ИК-спектроскопии, ИК-микроскопии, рентгеновское аналитическое оборудование, масс-спектрометрическое оборудование и приборы ЯМР.

Основанный на платформе D8 дифрактометр D8 DISCOVER имеет открытую модульную архитектуру. D8 DISCOVER имеет специализированные конфигурации для рефлектометрии и прецизионных исследований. D8 DISCOVER может быть использован как в промышленности, так и для решения научных задач в том числе: контроль качества, разработка новых технологий изготовления тонких пленок, эпитаксиальных слоев, материалов для микро и наноэлектроники.

  • Градиентная параллельно-лучевая оптика – зеркала Гёбеля обеспечивает высокую интенсивность параллельного пучка рентгеновского излучения, необходимого для анализа тонких пленок
  • Такие модули, как автоматический поглотитель, позволяет упростить процесс съемки
  • Сменные монохроматоры обеспечивают возможность анализа различных материалов
  • Современные столики для образцов и разнообразные подвески Эйлера делают более удобным и гибким проведение микродифракционных измерений, анализ остаточных напряжений и текстуры. Для проведения рентгеновской рефлектометрии существуют специальные прободержатели, в том числе для проведения температурных исследований
  • Модуль Ultra GID предназначен для исследования нанометровых эпитаксиальных слоев
  • Позиционно-чувствительный детектор VANTEC-1 существенно ускоряет съемку карт обратного пространства
  • Аналитические пакеты LEPTOS и MULTEX Area дают возможность обрабатывать данные измерений рефлектометрии, остаточных напряжений, микродифракции, дифрактометрии высокого разрешения

   brochure_d8_discover.pdf (0.00 Мб.)