В корзине пусто

Тел./факс:

Новости

16.10.2018 Новые универсальные вольтметры 6 ½ разрядов GW Instek: GDM-79061 и GDM -79060

Компания GW Instek (Тайвань) объявляет о начале поставок новых и универсальных вольтметров GDM-79061 и GDM -79060. Новые вольтметры 6 ½ разрядов отличаются высокой скоростью измерений до 10К/секунду, большой внутренней памятью (100К), большим удобством эксплуатации.

Ф

 

События

05.10.2018 Семинар компании Newport в Новосибирске: «Forget the textbook - Know-how for the lab»

Группа компаний «Научное оборудование» приглашает вас 11 октября 2018 года на семинар компании Newport в Новосибирске «Forget the textbook - Know-how for the lab».

Ф

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Точная трехмерная микроскопия для SEM Bruker Micro-CT

Точная трехмерная микроскопия для СЭМ


Добавить в мои товары

Получив ваш запрос, наш менеджер свяжется с вами для уточнения деталей. Вы также можете связаться с менеджером по телефону: +7 (383) 383-24-06

 

Компания Bruker специализируется на разработке спектрального аналитического оборудования для ИК-спектроскопии, ИК-микроскопии, рентгеновское аналитическое оборудование, масс-спектрометрическое оборудование и приборы ЯМР.

Микрокомпьютерная томография (МКТ) для сканирующей электронной микроскопии поможет дополнить ее точной трехмерной микроскопией независимо от производителя или модели. Микрокомпьютерная томография для СЭМ расширяет информацию о поверхности, полученную с помощью традиционных снимков СЭМ, позволяя глубже взглянуть на внутреннюю микроструктуру образца посредством неразрушающей и простой процедуры.

Основные преимущества
  • Получение информации о внутренней микроструктуре образца посредством неразрушающей процедуры и без какой-либо дополнительной подготовки пробы
  • Измерение и визуализация внутренней морфологии в двухмерном и трехмерном режиме
  • Создает реалистичные модели для виртуального обследования образца
  • Интуитивное и простое в использовании программное обеспечение для трехмерной передачи, визуализации в виде трех ортогональных сечений или срез за срезом
  • Объем сканирования до 4 мм в диаметре, максимальная длина образца - 10 мм
  • Обнаружение деталей размером до 400 нм