В корзине пусто

Тел./факс:

Новости

08.09.2017 Новое решение для тестирования коэффициента битовых ошибок со скоростью до 64 Гбод от Keysight Technologies существенно упрощает настройки испытаний и ускоряет тестирование приемников стандарта 400G

Самый высокоинтегрированный в отрасли тестер коэффициента битовых ошибок (BERT) для сигналов PAM-4 и NRZ теперь оснащен новым регулируемым корректором

Ключевые нововведения:

·        Упрощенная настройка тестирования приемника благодаря высокоинтегрированному генератору кодовых последовательностей

·        Стабильные результаты по восстановлению раскрыва глазковой диаграммы благодаря встроенному корректору

·        Возможность масштабирования и обновления в соответствии с будущими потребностями

Ф

 

События

11.09.2017 Основы измерений параметров материалов и устройств, Новосибирск

Группа компаний "Научное оборудование" и компания Keysight Technologies (ранее Группа электронных измерений Agilent) приглашают Вас 21 сентября 2017 г. на семинар «Основы измерений параметров материалов и устройств» в рамках серии семинаров HOTSPOTS.

Ф Б Х Г

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Зонд PtSi-NCH разработан для бесконтактного или полуконтактного режима работы атомно-силового микроскопа. Зонд этого типа обладает высокой эксплуатационной стабильностью, высокой чувствительностью и возможностью быстрого сканирования. Рекомендуется использование этого зонда в задачах, в которых требуется износостойкий и проводящий зонд.


Добавить в мои товары

Получив ваш запрос, наш менеджер свяжется с вами для уточнения деталей. Вы также можете связаться с менеджером по телефону: +7 (383) 383-24-06

 

Компания NANOSENSORS™ более 20 лет является мировым лидером в области сканирующих зондов.

Зонд PtSi-NCH разработан для бесконтактного или полуконтактного режима работы атомно-силового микроскопа. Зонд этого типа обладает высокой эксплуатационной стабильностью, высокой чувствительностью и возможностью быстрого сканирования. Рекомендуется использование этого зонда в задачах, в которых требуется износостойкий и проводящий зонд.

Также зонды PtSi-FM подходят для контактной атомно-силовой микроскопии (C-AFM), туннельной АСМ и растровой емкостной микроскопии (SCM).

Зонд имеет уникальные характеристики:

  • покрытие из силицида платины с превосходной электропроводностью и высокой износостойкостью
  • высокая механическая добротность для высокой чувствительности
  • канавки центрирования на задней стороне кремниевого держателя

Технические характеристики зонда:

Технические данные

Номинальное значение

Заданный диапазон

Толщина, мкм

4

3,0-5,0

Ширина, мкм

30

22,5-37,5

Длина, мкм

125

115-135

Силовая постоянная (Н м)

42

10-130

Резонансная частота, кГц

330

204-497