В корзине пусто

Тел./факс:

Новости

18.07.2018 Tektronix добавляет декодирование сигналов протокола SPMI в осциллографы MSO серий 5 и 6 для ускорения отладки мобильных устройств

Решение предлагает настройку простым касанием, декодирование и запуск по сигналам шины управления питанием для непревзойденного глубокого анализа сигналов и повышения производительности измерений

Ф

 

События

08.05.2018 Leybold. Вакуумное оборудование для лабораторного и промышленного применения

Группа компаний "Научное оборудование" и ООО "Лейфикон Вакуум Сервис", официальный представитель компании Leybold в России, приглашают Вас принять участие в серии семинаров "Leybold. Вакуумное оборудование для лабораторного и промышленного применения", которые пройдут в Новосибирске и Зеленогорске с 14 по 18 мая 2018 года.

Ф Г

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Дифрактометр для контроля качества в полупроводниковой промышленности Bruker D8 FABLINE

Измерительная система для полупроводниковой промышленности


Добавить в мои товары

Получив ваш запрос, наш менеджер свяжется с вами для уточнения деталей. Вы также можете связаться с менеджером по телефону: +7 (383) 383-24-06

 

Компания Bruker специализируется на разработке спектрального аналитического оборудования для ИК-спектроскопии, ИК-микроскопии, рентгеновское аналитическое оборудование, масс-спектрометрическое оборудование и приборы ЯМР.

Функциональные модули устройств на основе полупроводников и полупроводниковых соединений непрерывно уменьшаются в размерах. Кроме того, структура этих устройств становится все более и более сложной, а их производство –все более и более дорогостоящим. Поэтому потребность в надежном методе анализа, таком как рентгеновская дифрактометрия, для разработки новых технологий и контроля качества в процессе производства становится все более острой.

Почему рентгеновская дифрактометрия?

Во-первых, рентгеновская дифрактометрия – это неразрушающий метод анализа на нанометровом уровне,что позволяет определять множество важных параметров материалов без использования стандарта.

Во-вторых, за годы использования в научных исследованиях и разработках этот способ показал себя в высшей степениточным и достоверным. Во многих случаях достаточно провести только одно быстрое рентгенодифракционное измерение, чтобы определить такие параметры образца, как толщина слоя, зернистость, плотность и химический состав; пористость; межплоскостные расстояния, градиенты, дефекты и степень релаксации; предпочтительная ориентация, текстура и напряжения – все с разрешением до 10 мкм.

D8 FABLINE оснащен роботизированным горизонтальным прободержателем

Серия D8 DISCOVER, используемая в исследовательских разработках, славится аналитической гибкостью и надежностью, которые с появлением D8 FABLINE стали доступны в требовательных условиях «чистой комнаты». D8 FABLINE оснащен роботизированным горизонтальным прободержателем диаметром до 300 мм, а также двумя FOUP-интерфейсами для проведения рутинного анализа при контроле качества. Можно полностью автоматизировать измерения и анализ данных, и, при необходимости, Bruker AXS обеспечивает настройку оборудования для соответствия технологическим требованиям. Более того, интерфейс SEC/GEM можно адаптировать в соответствии с требованиями оператора, включая интегрированную систему распознавания образов или штрих-кодов.

D8 FABLINE – это «рабочая лошадка» для анализа полупроводников.