В корзине пусто

Тел./факс:

Новости

13.11.2018 Ограниченное предложение! Скидка 10% на спектрометр Ocean MZ5 ATR-MIR

Ф

 

События

05.10.2018 Семинар компании Newport в Новосибирске: «Forget the textbook - Know-how for the lab»

Группа компаний «Научное оборудование» приглашает вас 11 октября 2018 года на семинар компании Newport в Новосибирске «Forget the textbook - Know-how for the lab».

Ф

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Система СЗМ/АСМ Agilent 5420 AFM/SPM

Научный прибор, обеспечивающий атомарное разрешение; Модернизируемая система СЗМ/АСМ; Конструкция открытого доступа обеспечивает легкость использования; Новая электроника и методики измерений.


Добавить в мои товары

Получив ваш запрос, наш менеджер свяжется с вами для уточнения деталей. Вы также можете связаться с менеджером по телефону: +7 (383) 383-24-06

 

Agilent Technologies предлагает широчайший спектр инновационных решений для науки и промышленности. Компания работает в четырёх областях: химический анализ, науки о жизни, диагностика и геномика, электрические измерения. Компания много инвестирует в исследования и разработку новых подходов и решений, создавая уникальные и прорывные решения для самых разных областей науки и техники.

Agilent 5420 AFM/SPM – система СЗМ/АСМ, отличающаяся эргономичностью дизайна, предназначена для задач исследований и обучения. Прибор обеспечивает атомарное разрешение, может быть оснащен дополнительными опциями, позволяет проводить методики электрических измерений одновременно с построением топографии поверхности для микроскопии Кельвина и электрической силы, совместим с опцией сканирующей микроволновой микроскопии (СММ) для измерений характеристик полупроводников.

Преимущества:

  • Научный прибор, обеспечивающий атомарное разрешение
  • Модульность конструкции позволяет модернизировать систему СЗМ/АСМ
  • Конструкция открытого доступа обеспечивает легкость и удобство использования
  • Новая электроника и методики измерений

Области применения:

  • Материалы для электроники
  • Материаловедение
  • Измерения параметров поверхности
  • Обучение

Одновременно полученное изображение транзистора SiGe в режимах топографии, СММ и измерении dC/dV