В корзине пусто

Тел./факс:

Новости

19.06.2018 В Уральском федеральном государственном университете открылась лаборатория Современных телекоммуникационных технологий на базе решений Keysight Technologies

25 мая 2018 Уральский федеральный государственный университет и компания Keysight Technologies объявили об открытии лаборатории Современных телекоммуникационных технологий на базе Института радиоэлектроники и информационных технологий УрФУ.

Ф

 

События

08.05.2018 Leybold. Вакуумное оборудование для лабораторного и промышленного применения

Группа компаний "Научное оборудование" и ООО "Лейфикон Вакуум Сервис", официальный представитель компании Leybold в России, приглашают Вас принять участие в серии семинаров "Leybold. Вакуумное оборудование для лабораторного и промышленного применения", которые пройдут в Новосибирске и Зеленогорске с 14 по 18 мая 2018 года.

Ф Г

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Система СЗМ/АСМ Agilent 5420 AFM/SPM

Научный прибор, обеспечивающий атомарное разрешение; Модернизируемая система СЗМ/АСМ; Конструкция открытого доступа обеспечивает легкость использования; Новая электроника и методики измерений.


Добавить в мои товары

Получив ваш запрос, наш менеджер свяжется с вами для уточнения деталей. Вы также можете связаться с менеджером по телефону: +7 (383) 383-24-06

 

Agilent Technologies предлагает широчайший спектр инновационных решений для науки и промышленности. Компания работает в четырёх областях: химический анализ, науки о жизни, диагностика и геномика, электрические измерения. Компания много инвестирует в исследования и разработку новых подходов и решений, создавая уникальные и прорывные решения для самых разных областей науки и техники.

Agilent 5420 AFM/SPM – система СЗМ/АСМ, отличающаяся эргономичностью дизайна, предназначена для задач исследований и обучения. Прибор обеспечивает атомарное разрешение, может быть оснащен дополнительными опциями, позволяет проводить методики электрических измерений одновременно с построением топографии поверхности для микроскопии Кельвина и электрической силы, совместим с опцией сканирующей микроволновой микроскопии (СММ) для измерений характеристик полупроводников.

Преимущества:

  • Научный прибор, обеспечивающий атомарное разрешение
  • Модульность конструкции позволяет модернизировать систему СЗМ/АСМ
  • Конструкция открытого доступа обеспечивает легкость и удобство использования
  • Новая электроника и методики измерений

Области применения:

  • Материалы для электроники
  • Материаловедение
  • Измерения параметров поверхности
  • Обучение

Одновременно полученное изображение транзистора SiGe в режимах топографии, СММ и измерении dC/dV