В корзине пусто

Тел./факс:

Новости

18.01.2018 Специальное предложение! Осциллографы Teledyne LeCroy с предустановленными опциями по привлекательной цене!

Ф

 

События

17.01.2018 Основы разработки и тестирования преобразователей электрической энергии, Новосибирск

Группа компаний "Научное оборудование" и компания Keysight Technologies (ранее Группа электронных измерений Agilent) приглашают Вас 6 февраля 2018 г. на семинар «Основы разработки и тестирования преобразователей электрической энергии» в рамках серии семинаров HOTSPOTS.

Б Ф Х Г

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Двухлучевая система FEI Versa 3D

Versa 3D – самая многофункциональная и универсальная двулучевая система. Это единственная в мире двухлучевая система с различными уровнями вакуума в камере, в том числе в режимом естественной среды (ESEM). Данный микроскоп обеспечивает высочайшее качество получаемых изображений и современные аналитические возможности, предоставляя большой объём данных и трёхмерную визуализацию даже для самых сложных образцов.


Добавить в мои товары

Получив ваш запрос, наш менеджер свяжется с вами для уточнения деталей. Вы также можете связаться с менеджером по телефону: +7 (383) 383-24-06

 

FEI является ведущей компанией, разрабатывающей научное оборудование, электронные и ионно-лучевые микроскопы и другие инструменты для наномасштабных приложений во многих отраслях промышленности: производственные и научные исследования материалов, науки о жизни, полупроводники, хранение данных, природные ресурсы и многое другое.

Versa 3D – самая многофункциональная и универсальная двулучевая система. Это единственная в мире двухлучевая система с различными уровнями вакуума в камере, в том числе в режимом естественной среды (ESEM). Данный микроскоп обеспечивает высочайшее качество получаемых изображений и современные аналитические возможности, предоставляя большой объём данных и трёхмерную визуализацию даже для самых сложных образцов. Микроскоп Versa 3D позволяет по Вашему желанию оптимизировать систему для проводящих образцов в условиях высокого вакуума; непроводящих образцов в условиях низкого вакуума; или расширить рамки исследований в область динамических экспериментов.

Области применения: материаловедение, микроэлектроника, нанотехнологии.

Основные преимущества:

  • Исследование поверхности и подповерхностных слоев любых образцов

  • Подготовка образцов высокого качества для просвечивающего электронного микроскопа (ПЭМ) и атомного зонда для исследования на атомарном уровне

  • Удобство изучения проводящих и непроводящих образцов в условиях высокого и низкого вакуума

  • Трёхмерное отображение результатов для всех типов материалов

  • Полный комплект программных приложений* для выполнения сложных исследовательских задач, например, трёхмерная характеризация методом последовательных поперечных срезов, пробоподготовка и прототипирование на основе файлов изображений и CAD-файлов.

Технические характеристики:


Характеристика

Значение

Электронная оптика

Термополевой эмиттер Шоттки.
Диапазон тока пучка: от 0,1 пА до 200 нA.

Ионная оптика

Источник ионов на базе жидкого галлия для применения в высоком вакууме.
Ток зонда: от 0,6 пА до 65 нA.

Разрешение, нм:

- Режим высокого вакуума

Разрешение во вторичных электронах при 30 кВ

1,2

       - с плазменным очистителем

1,0

Разрешение в обратно отраженных электронах при 30 кВ

2,5

Разрешение во вторичных электронах при 1 кВ

2,9

- Режим низкого вакуума*

Разрешение во вторичных электронах при 30 кВ

1,5

Разрешение в обратно отраженных электронах при 30 кВ

2,5

Разрешение во вторичных электронах при 3 кВ

3,0

- Режим ESEM*

Разрешение во вторичных электронах при 30 кВ

1,5

Разрешение во вторичных электронах при 3 кВ

3,0

- Разрешение в ионах

7 нм при 30 кВ в точке пересечения пучков;
5 нм при оптимальном рабочем расстоянии

Диапазон энергий электронов у поверхности образца (режим торможения пучка)

от 20 В до 30 кВ

Столик

Стандартный

Высокоточный моторизованный по 5 осям*

- перемещение по осям X, Y

110 мм

150 мм

- перемещение по оси Z

≥ 20 мм

10 мм

- Поворот

n x 360° ход

n x 360° , с пьезоприводом

- Наклон

от -15 до +90°

от -10 до +60°

- Воспроизводимость по осям X, Y

2,0 мкм

1,0 мкм