В корзине пусто

Тел./факс:

Новости

15.02.2018 Генераторы произвольной формы АКИП-3422

Ф

 

События

17.01.2018 Основы разработки и тестирования преобразователей электрической энергии, Новосибирск

Группа компаний "Научное оборудование" и компания Keysight Technologies (ранее Группа электронных измерений Agilent) приглашают Вас 6 февраля 2018 г. на семинар «Основы разработки и тестирования преобразователей электрической энергии» в рамках серии семинаров HOTSPOTS.

Б Ф Х Г

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Сканирующий электронный микроскоп FEI Teneo

Teneo предназначенный для исследования материалов, считающихся сложными для исследования на электронном микроскопе, таких как магнитные образцы, стекло и другие непроводящие материалы. Teneo позволяет быстро получать изображения подобных образцов с высоким контрастом и разрешением.


Добавить в мои товары

Получив ваш запрос, наш менеджер свяжется с вами для уточнения деталей. Вы также можете связаться с менеджером по телефону: +7 (383) 383-24-06

 

FEI является ведущей компанией, разрабатывающей научное оборудование, электронные и ионно-лучевые микроскопы и другие инструменты для наномасштабных приложений во многих отраслях промышленности: производственные и научные исследования материалов, науки о жизни, полупроводники, хранение данных, природные ресурсы и многое другое.

Teneo – новинка 2014 года. Микроскоп, предназначенный для исследования материалов, считающихся сложными для исследования на электронном микроскопе, таких как магнитные образцы, стекло и другие непроводящие материалы. Teneo позволяет быстро получать изображения подобных образцов с высоким контрастом и разрешением.

Области применения: материаловедение, естественные науки, микроэлектроника, нанотехнологии.

Основные преимущества:

  • Лучше в классе разрешение и контраст, даже при работе с магнитными материалами

  • Выдающиеся аналитические возможности в режимах высокого и низкого вакуума благодаря использованию токов пучка до 400 нА

  • Широкий диапазон доступных сигналов, получаемых одновременно благодаря усовершенствованной технологии внутрилинзового детектирования Trinity

  • Электронная неиммерсионная колонна NICol сверхвысокого разрешения с автоэмиссионной пушкой Шоттки

  • Опциональный режим низкого вакуума*

  • Система модульная; конфигурация микроскопа может быть оптимизирована для решения конкретной задачи.

Технические характеристики:

Характеристика

Значение

Разрешение (высокий вакуум)

- 0,8 нм при 30 кВ (STEM)
- 1,0 нм при 15 кВ
- 1,4 нм при 1 кВ
 (при оптимальном рабочем расстоянии)

Диапазон энергий электронов у поверхности образца

20 эВ – 30 кэВ

Ток зонда

от 0,8 пА до 100 нA

Столик:

- Тип

Эвцентрический гониометрический столик, 5-осевой моторизованный

- Ход по осям X и Y

  1. 110 мм

- Воспроизводимость результатов по осям X и Y

< 2,0 мкм (при наклоне 0°)

- Ход по оси Z

  1. м

- Поворот

n x 360°

- Наклон

-15° …+90°

Максимальная высота образца

Расстояние 85 мм до эвцентрической точки

Максимальный вес образца

500 г при любом положении предметного столика (до 2 кг при наклоне 0°)

Максимальный размер образца

150 мм при полном вращении (для образцов большего размера вращение ограничено)

Поле зрения

От ≤ 100 нм до 1,5 мм

Ширина камеры

379 мм

Количество портов

21