В корзине пусто

Тел./факс:

Новости

15.02.2018 Генераторы произвольной формы АКИП-3422

Ф

 

События

17.01.2018 Основы разработки и тестирования преобразователей электрической энергии, Новосибирск

Группа компаний "Научное оборудование" и компания Keysight Technologies (ранее Группа электронных измерений Agilent) приглашают Вас 6 февраля 2018 г. на семинар «Основы разработки и тестирования преобразователей электрической энергии» в рамках серии семинаров HOTSPOTS.

Б Ф Х Г

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Сканирующий электронный микроскоп FEI Inspect

Микроскопы Inspect обеспечивают простоту исследования как проводящих, так и непроводящих образцов. Линейка инструментов Inspect включает две модели. Inspect S 50(с вольфрамовым катодом) позволяет работать как в высоком, так и в низком вакууме. Inspect F50 (с автоэмиссионной пушкой Шоттки) сочетает аналитическую производительность и возможностью получения высококачественных изображений.


Добавить в мои товары

Получив ваш запрос, наш менеджер свяжется с вами для уточнения деталей. Вы также можете связаться с менеджером по телефону: +7 (383) 383-24-06

 

FEI является ведущей компанией, разрабатывающей научное оборудование, электронные и ионно-лучевые микроскопы и другие инструменты для наномасштабных приложений во многих отраслях промышленности: производственные и научные исследования материалов, науки о жизни, полупроводники, хранение данных, природные ресурсы и многое другое.

Серия SEM Inspect предназначена для решения широкого круга рутинных задач. Микроскопы Inspect обеспечивают простоту исследования как проводящих, так и непроводящих образцов. Линейка инструментов Inspect включает две модели. Inspect S 50(с вольфрамовым катодом) позволяет работать как в высоком, так и в низком вакууме. Inspect F50 (с автоэмиссионной пушкой Шоттки) сочетает аналитическую производительность и возможностью получения высококачественных изображений.

Основные преимущества:

  • Возможность работы в режиме низкого вакуума для исследования и контроля непроводящих и сильно загрязненных образцов (Inspect S50)

  • Возможность совмещать низкотемпературные режимы, энергодисперсионную спектроскопию (EDX), волнодисперсионную спектроскопию (WDX) и техники дифракции обратно отраженных электронов (EBSD); установки системы электронно-лучевой литографии (Inspect F50)

  • Простой, интуитивно понятный интерфейс

  • Технология интеллектуального сканирования SmartSCAN, понижающая уровень помех и повышающая качество изображения

  • Опциональный режим торможения пучка для получения изображений высокого разрешения проводящих образцов, чувствительных к воздействию электронного пучка

  • Удобная навигация по образцу с помощью ИК-камеры и цветной оптической камеры Nav-Cam*

Модельный ряд: Inspect S50 / Inspect F50

Технические характеристики:

Характеристика

Модель

 

Inspect S50

Inspect F50

Разрешение (высокий вакуум)

3,0 нм при 30кВ (SE)

0,8 нм при 30 кВ (STEM)*

 

4,0 нм при 30 кВ (BSE)*

1,0 нм при 30 кВ (SE)

 

8,0 нм при 3 кВ (SE)

2,5 нм при 30 кВ (BSE)*

 

 

3,1 нм при 200 В (ICD*)

Разрешение (высокий вакуум, с использованием

7,0 нм при 3 кВ (vCD*)

3,0 нм при 1 кВ (BSE*)

режима торможения пучка*)

 

2,3 нм при 1 кВ (ICD*)

 

 

3,1 нм при 200 В (ICD*)

Разрешение (низкий вакуум)

3,0 нм при 30 кВ (SE)

 

 

4,0 нм при 30 кВ (BSE)*

 

 

10,0 нм при 3 кВ (SE)

 

Ускоряющее напряжение

200В - 30кВ

Ток зонда

?200нA

Столик

 

- Перемещение в плоскости XY

50 50мм

- Воспроизводимость результатов

2,0мкм

- Перемещение по оси Z

50мм (25 мм – моториз.)

- Поворот

n x 360°

- Наклон

-15° / +75°

Ширина камеры

284мм

Количество портов

8

Прим.: SE – режим вторичных электронов, BSE - режим обратно рассеянных электронов