В корзине пусто

Тел./факс:

Производитель:

Показать   Очистить

Новости

25.04.2017

До 30 сентября 2017 года при покупке осциллографа серии InfiniiVision получите осциллограф InfiniiVision DSOX1102G с полосой пропускания 100 МГц в подарок.

Ф

 

События

28.03.2017

Сибирский Федеральный университет и компания Keysight Technologies(ранее Группа электронных измерений Agilent) приглашают Вас 18 апреля 2017 г. на семинар «Основы измерения параметров ВС/СВЧ-сигналов».

Ф

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Сканирующие электронные микроскопы FEI


Сканирующий электронный микроскоп FEI Apreo

Комбинированная линза Apreo позволяет получать беспрецедентное разрешение и материальный контраст за счет сочетания электростатической и магнитной иммерсионной технологий. Apreo это высокопроизводительная платформа для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств, в том числе, для работы с магнитными образцами.

Сканирующий электронный микроскоп FEI Inspect

Микроскопы Inspect обеспечивают простоту исследования как проводящих, так и непроводящих образцов. Линейка инструментов Inspect включает две модели. Inspect S 50(с вольфрамовым катодом) позволяет работать как в высоком, так и в низком вакууме. Inspect F50 (с автоэмиссионной пушкой Шоттки) сочетает аналитическую производительность и возможностью получения высококачественных изображений.

Сканирующий электронный микроскоп FEI MLA&Qemscan

QEMSCAN и MLA – созданные на базе сканирующего электронного микроскопа Quanta с двумя предустановленными ЭДС-спектрометрами автоматизированные высокопроизводительные системы для анализа минералов. Используя интегрированное оборудование и мощное специализированное программное обеспечение, данные микроскопы способны определять большинство минералов.

Сканирующий электронный микроскоп FEI Nova NanoSEM

Растровый электронный микроскоп Nova NanoSEM – это идеальное решение для структурных исследований и анализа в наномасштабе. Он обеспечивает выдающиеся результаты при работе с самыми сложными материалам.

Сканирующий электронный микроскоп FEI Quanta

Линейка растровых электронных микроскопов Quanta - это самые универсальные сканирующие электронные микроскопы, работающие в трех режимах (высоковакуумный, низковакуумный и режим естественной среды), предназначенные для работы с широким спектром образцов. Quanta обладает многофункциональностью, необходимой для получения изображений с высоким разрешением и удовлетворения требований проведения анализа в различных лабораторных условиях.

Сканирующий электронный микроскоп FEI Teneo

Teneo предназначенный для исследования материалов, считающихся сложными для исследования на электронном микроскопе, таких как магнитные образцы, стекло и другие непроводящие материалы. Teneo позволяет быстро получать изображения подобных образцов с высоким контрастом и разрешением.

Сканирующий электронный микроскоп FEI Verios XHR

Verios – это передовое семейство сканирующих электронных микроскопов FEI второго поколения с высочайшей в мире разрешающей способностью. Этот прибор обеспечивает субнанометровое разрешение в диапазоне ускоряющих напряжений от 1 до 30 кВ. Его непревзойденная работа при низких ускоряющих напряжениях обеспечивает получение чрезвычайно точных данных о структуре поверхности, недоступных при использовании других методов.