В корзине пусто

Тел./факс:

Производитель:

Показать   Очистить

Новости

25.04.2017 Второй осциллограф - в стандартной комплектации в подарок!

До 30 сентября 2017 года при покупке осциллографа серии InfiniiVision получите осциллограф InfiniiVision DSOX1102G с полосой пропускания 100 МГц в подарок.

Ф

 

События

28.03.2017 Основы измерений параметров ВЧ-/СВЧ-сигналов, Красноярск

Сибирский Федеральный университет и компания Keysight Technologies(ранее Группа электронных измерений Agilent) приглашают Вас 18 апреля 2017 г. на семинар «Основы измерения параметров ВС/СВЧ-сигналов».

Ф

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Ионные микроскопы FEI


Ионный микроскоп FEI V400ACE FIB

Ионный микроскоп V400ACE объединяет в себе последние разработки в проектировании ионной колонны, подачи газа и точечного позиционирования для обеспечения быстрого, эффективного, экономичного производства интегральных схем. Система позволяет производителям полупроводниковых схем развести проводящие дорожки и протестировать работу измененных схем в течение считанных часов, а не недель или месяцев, которые потребуются для создания новых масок и обработки новых пластин традиционными методами.

Ионный микроскоп FEI Vion Plasma FIB

Vion Plasma FIB является инструментом, способным проводить точную резку и травление с высокой скоростью. Он обладает возможностью избирательного травления заданных областей образца и химического осаждения материала. Используемый в Vion Plasma FIB источник плазмы обеспечивает 20 – 60 раз более высокие токи пучка, чем традиционные ионные микроскопы с использованием ионов галлия, сохраняя при этом все возможности использования низкого тока пучка.