В корзине пусто

Тел./факс:

Новости

25.04.2017 Второй осциллограф - в стандартной комплектации в подарок!

До 30 сентября 2017 года при покупке осциллографа серии InfiniiVision получите осциллограф InfiniiVision DSOX1102G с полосой пропускания 100 МГц в подарок.

Ф

 

События

28.03.2017 Основы измерений параметров ВЧ-/СВЧ-сигналов, Красноярск

Сибирский Федеральный университет и компания Keysight Technologies(ранее Группа электронных измерений Agilent) приглашают Вас 18 апреля 2017 г. на семинар «Основы измерения параметров ВС/СВЧ-сигналов».

Ф

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Электронная микроскопия

Двухлучевые системы FEI

Двухлучевая система FEI Helios NanoLab

Двухлучевая система (DualBeam) Helios Nanolab позволяет выйти на новый уровень получения 2D- и 3D-изображений и анализа, создания нанопрототипов и подготовки образцов. Технология Elstar™ FESEM обеспечивает наилучшую детализацию в нанометровом диапазоне в самых разных рабочих режимах: разрешениее значительно ниже 1 нм достигается как при 30 кВ для получения информации о структуре, так и при 500 В для беззарядного получения детальных данных о поверхности.

Двухлучевая система FEI Scios

В микроскопе Scios применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы. Scios позволяет получать изображения высокого разрешения и впечатляющую пропускную способность при выполнении двухмерного и трёхмерного анализа.

Двухлучевая система FEI Versa 3D

Versa 3D – самая многофункциональная и универсальная двулучевая система. Это единственная в мире двухлучевая система с различными уровнями вакуума в камере, в том числе в режимом естественной среды (ESEM). Данный микроскоп обеспечивает высочайшее качество получаемых изображений и современные аналитические возможности, предоставляя большой объём данных и трёхмерную визуализацию даже для самых сложных образцов.

 

Ионные микроскопы FEI

Ионный микроскоп FEI V400ACE FIB

Ионный микроскоп V400ACE объединяет в себе последние разработки в проектировании ионной колонны, подачи газа и точечного позиционирования для обеспечения быстрого, эффективного, экономичного производства интегральных схем. Система позволяет производителям полупроводниковых схем развести проводящие дорожки и протестировать работу измененных схем в течение считанных часов, а не недель или месяцев, которые потребуются для создания новых масок и обработки новых пластин традиционными методами.

Ионный микроскоп FEI Vion Plasma FIB

Vion Plasma FIB является инструментом, способным проводить точную резку и травление с высокой скоростью. Он обладает возможностью избирательного травления заданных областей образца и химического осаждения материала. Используемый в Vion Plasma FIB источник плазмы обеспечивает 20 – 60 раз более высокие токи пучка, чем традиционные ионные микроскопы с использованием ионов галлия, сохраняя при этом все возможности использования низкого тока пучка.

 

Настольные сканирующие электронные микроскопы Phenom все 5 позиций

Держатели образцов для электронных микроскопов Phenom World

Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom может быть оснащен разнообразными специализированными держателями образцов. Таким образом, обеспечивается возможность изучать образцы из различных материалов всевозможной формы.

Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom Pro

Phenom Pro - более технически оснащенная и совершенная модель для высокотребовательных профессионалов. Максимальное увеличение 130 000х; разрешение 14 нм; ускоряющее напряжение 5, 10 кВ.

Настольный сканирующий электронный микроскоп Phenom ProX

Phenom ProX - сканирующий электронный микроскоп с ЭДС микроанализом. Максимальное увеличение 130 000х; разрешение 14 нм; ускоряющее напряжение 5, 10, 15 кВ.

 

Настольные сканирующие электронные микроскопы Agilent

Сканирующий электронный микроскоп Agilent 8500 FESEM

Это низковольтный РЭМ: 500 В – 2 кВ, что позволяет исследовать непроводящие образцы без предварительного напыления проводящего слоя, а также энергочувствительные образцы. Agilent 8500 FESEM является полноценным РЭМ с автоэмиссионным катодом. Использование полевой эмиссии Шоттки обеспечивает высокую разрешающую способность и контрастность изображений при низком ускоряющем напряжении: разрешение 10нм при напряжении пучка 1кВ.

 

Прецизионные пинцеты все 21 позиция

Набор пинцетов Ted Pella 58098-NM

Набор из 4-х бюджетных пинцетов, 58081-NM, 58082-NM, 58084-NM и 58088-NM, нержавеющая сталь, кислотоупорный, немагнитный, в пластиковом чехле-конверте

Набор пинцетов Ted Pella 58099-NM

Набор из 4-х бюджетных пинцетов, 58082-NM, 58088-NM, тонкий длинный и длинный с насечками, нержавеющая сталь, кислотоупорный, немагнитный, в пластиковом чехле-конверте

Пинцет Ted Pella 58093-NM

Пинцет с фиксатором, нержавеющая сталь, SS, кислотоупорный, немагнитный, с насечками на губках, длина 160 мм

 

Принадлежности для электронной микроскопии все 11 позиций

Алмазный скрайбер Ted Pella

Пластиковый алмазный скрайбер со стальным стержнем, выполненный в виде шариковой авторучки

Алмазный скрайбер для особо тонких линий Ted Pella

Скрайбер для нанесения тонких линий, с радиусом наконечника 0.005”

Алмазный скрайбер с шестигранной ручкой и полированным алмазным наконечником Ted Pella

Алмазный скрайбер с шестигранной ручкой и полированным алмазным наконечником

 

Просвечивающие электронные микроскопы FEI

Просвечивающий электронный микроскоп FEI TALOS

Talos обеспечивает быстрый и точный количественный анализ материалов в нескольких измерениях. В нем объединены выдающаяся визуализация и высокое разрешение в режиме STEM с лучшим детектированием сигнала EDX, химическим анализом 3-мерных объектов и функцией картирования.

Просвечивающий электронный микроскоп FEI TECNAI

TEM серии TECNAI объединяют быструю, эффективную и простую работу с доказанной надежностью – от простого и быстрого получения изображения до уникальных, сложных экспериментов, требующих наличия превосходных аналитических возможностей. Tecnai поддерживает широкий диапазон методов, включая режим сканирующей просвечивающей микроскопии, спектроскопический анализ и 3D-томографию.

Просвечивающий электронный микроскоп FEI TITAN THEMIS

Микроскоп Titan™ Themis, разработанный компанией FEI, позволяет с лёгкостью получить доступ к атомарной информации. Сочетая проверенные компоненты, такие как корректоры сферической аберрации, монохроматорную систему и чувствительную технологию ChemiSTEM™, с новым улучшенным предметным столиком с пьезоэлектрическим приводом, программным обеспечением FEI Velox™ и 16-мегапиксельной CMOS-камерой FEI Ceta, этот прибор обеспечивает максимально быструю навигацию и моментальное увеличение для получения детальных изображений на уровне от мезоскопических до атомных длин

 

Сканирующие электронные микроскопы FEI все 7 позиций

Сканирующий электронный микроскоп FEI Apreo

Комбинированная линза Apreo позволяет получать беспрецедентное разрешение и материальный контраст за счет сочетания электростатической и магнитной иммерсионной технологий. Apreo это высокопроизводительная платформа для исследования наночастиц, катализаторов, порошков и наноустройств, в том числе, для работы с магнитными образцами.

Сканирующий электронный микроскоп FEI Inspect

Микроскопы Inspect обеспечивают простоту исследования как проводящих, так и непроводящих образцов. Линейка инструментов Inspect включает две модели. Inspect S 50(с вольфрамовым катодом) позволяет работать как в высоком, так и в низком вакууме. Inspect F50 (с автоэмиссионной пушкой Шоттки) сочетает аналитическую производительность и возможностью получения высококачественных изображений.

Сканирующий электронный микроскоп FEI MLA&Qemscan

QEMSCAN и MLA – созданные на базе сканирующего электронного микроскопа Quanta с двумя предустановленными ЭДС-спектрометрами автоматизированные высокопроизводительные системы для анализа минералов. Используя интегрированное оборудование и мощное специализированное программное обеспечение, данные микроскопы способны определять большинство минералов.