В корзине пусто

Тел./факс:

Производитель:

Показать   Очистить

Новости

25.04.2017

До 30 сентября 2017 года при покупке осциллографа серии InfiniiVision получите осциллограф InfiniiVision DSOX1102G с полосой пропускания 100 МГц в подарок.

Ф

 

События

28.03.2017

Сибирский Федеральный университет и компания Keysight Technologies(ранее Группа электронных измерений Agilent) приглашают Вас 18 апреля 2017 г. на семинар «Основы измерения параметров ВС/СВЧ-сигналов».

Ф

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Двухлучевые системы FEI


Двухлучевая система FEI Helios NanoLab

Двухлучевая система (DualBeam) Helios Nanolab позволяет выйти на новый уровень получения 2D- и 3D-изображений и анализа, создания нанопрототипов и подготовки образцов. Технология Elstar™ FESEM обеспечивает наилучшую детализацию в нанометровом диапазоне в самых разных рабочих режимах: разрешениее значительно ниже 1 нм достигается как при 30 кВ для получения информации о структуре, так и при 500 В для беззарядного получения детальных данных о поверхности.

Двухлучевая система FEI Scios

В микроскопе Scios применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы. Scios позволяет получать изображения высокого разрешения и впечатляющую пропускную способность при выполнении двухмерного и трёхмерного анализа.

Двухлучевая система FEI Versa 3D

Versa 3D – самая многофункциональная и универсальная двулучевая система. Это единственная в мире двухлучевая система с различными уровнями вакуума в камере, в том числе в режимом естественной среды (ESEM). Данный микроскоп обеспечивает высочайшее качество получаемых изображений и современные аналитические возможности, предоставляя большой объём данных и трёхмерную визуализацию даже для самых сложных образцов.