В корзине пусто

Тел./факс:

Новости

09.10.2017 Решения компании Keysight Technologies для тестирования устройств с высокоскоростным интерфейсом Type-C обеспечивают наиболее полную проверку физического уровня на соответствие требованиям стандартов

Новый контроллер для тестирования Type-C позволяет проверять устройства в любом состоянии согласно соответствующим стандартам

Ф

 

События

16.10.2017 Немецкие технологии в вакуумном оборудовании, Новосибирск, 24 октября

Группа компаний "Научное оборудование" приглашает Вас 24 октября принять участие в семинаре «Немецкие технологии в вакуумном оборудовании. LewVac и Leybold», который пройдет в Новосибирском Академгородке в ИФП СО РАН.

Б Ф Х Г

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Cascade Microtech

Cascade Microtech, Inc. — мировой лидер в области точных измерений и тестов передовых полупроводниковых изделий — интегральных схем (ICs), кристаллов, плат, модулей, MEMS (microelectromechanical systems), 3D TSV (through-silicon via), LED и т.д. Зондовые станции и пробники используются в научных исследованиях и разработке для точных электронных измерений сложных, высокоскоростных решений, обеспечивают качество и достоверность при минимальном времени и стоимости тестов в процессе производства. Семейство продуктов компании включают также уникальные проб-карты, тестовые разъемы и ATE-контакторы, применение которых снижает затраты при изготовлении современных полупроводниковых продуктов.

Продукты компании используются для исследовательского и производственного тестирования широкого круга устройств — цифровых сигнальных процессоров, изделий для телекоммуникаций, микросхем памяти, микроконтроллеров, графических процессоров и специальных схем. Измерительные возможности продуктов Cascade Microtech позволяют мировым полупроводниковым компаниям соответствовать в своих изделиях «закону Мура» и удовлетворять потребности рынка быстрее и дешевле.

История инноваций Cascade Microtech началась с коллективной работы Eric Strid и Reed Gleason, которые в 1983 разработали первый СВЧ-пробник на измерений пластине. 1983 года, разработчики высокоскоростных микросхем могли только предполагать как в деталях работает спроектированное устройство — способов представления процессов происходящих на пластине не было. Используя революционные решения от Cascade Microtech разработчики получили возможность проводить измерения на пластинах до их разделения на отдельные кристаллы и корпусирования. Это существенно уменьшило время и стоимость разработки новых устройств. Технология Cascade Microtech тестирования на пластине стала индустриальным стандартом.