В корзине пусто

Тел./факс:

Новости

08.09.2017 Новое решение для тестирования коэффициента битовых ошибок со скоростью до 64 Гбод от Keysight Technologies существенно упрощает настройки испытаний и ускоряет тестирование приемников стандарта 400G

Самый высокоинтегрированный в отрасли тестер коэффициента битовых ошибок (BERT) для сигналов PAM-4 и NRZ теперь оснащен новым регулируемым корректором

Ключевые нововведения:

·        Упрощенная настройка тестирования приемника благодаря высокоинтегрированному генератору кодовых последовательностей

·        Стабильные результаты по восстановлению раскрыва глазковой диаграммы благодаря встроенному корректору

·        Возможность масштабирования и обновления в соответствии с будущими потребностями

Ф

 

События

11.09.2017 Основы измерений параметров материалов и устройств, Новосибирск

Группа компаний "Научное оборудование" и компания Keysight Technologies (ранее Группа электронных измерений Agilent) приглашают Вас 21 сентября 2017 г. на семинар «Основы измерений параметров материалов и устройств» в рамках серии семинаров HOTSPOTS.

Ф Б Х Г

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Атомно – силовая микроскопия

Атомно-силовые микроскопы все 5 позиций

Высокоразрешающий СЗМ/АСМ Agilent 5100 AFM/SPM

Самая недорогая модель в линейке АСМ Agilent Technologies; Модульная, масштабируемая система СЗМ/АСМ; Высокая разрешающая способность + большое поле сканирования; Возможность модернизации до модели 5500 AFM/SPM.

Интеграция инверсного оптического микроскопа и АСМ Agilent 6000ILM AFM/SPM

Интеграция инверсного оптического или конфокального микроскопа и АСМ; Локализация/совмещение областей сканирования по изображению; Высокоточное совмещение слоев оптического и АСМ изображений; Моторизованный стол позиционирования образца.

Система СЗМ/АСМ Agilent 5420 AFM/SPM

Научный прибор, обеспечивающий атомарное разрешение; Модернизируемая система СЗМ/АСМ; Конструкция открытого доступа обеспечивает легкость использования; Новая электроника и методики измерений.

 

Кантилеверы для атомно-силовых микроскопов Nanosensors все 5 позиций

Зонд Nanosensors PtSi-NCH

Зонд PtSi-NCH разработан для бесконтактного или полуконтактного режима работы атомно-силового микроскопа. Зонд этого типа обладает высокой эксплуатационной стабильностью, высокой чувствительностью и возможностью быстрого сканирования. Рекомендуется использование этого зонда в задачах, в которых требуется износостойкий и проводящий зонд.