В корзине пусто

Тел./факс:

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Рентгеновская дифрактометрия

Рентгеновская дифракция все 9 позиций

Дифрактометр для контроля качества в полупроводниковой промышленности Bruker D8 FABLINE

Измерительная система для полупроводниковой промышленности

Дифрактометр для нанотехнологий Bruker D8 DISCOVER

Передовая рентгенодифракционная система для материаловедения

Дифрактометр для определения ориентации кристалла Bruker D2 CRYSO (снято с производства)

Инструмент для определения ориентации кристаллической решетки

 

Рентгеноструктурный анализ все 4 позиции

Cистема с лучом закрытого типа для рентгеновского определения структуры Bruker SMART X2S

Полностью автоматизированное определение 3-мерной структуры

Микрофокусный источник рентгеновского излучения Bruker MICROSTAR

Новые стандарты в интенсивности излучения, экономичности, простоте в использовании и надежности

Стандарт качества для рентгеноструктурного анализа Bruker D8 QUEST

Стандарт качества для рентгеноструктурного анализа