В корзине пусто

Тел./факс:

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Рентгеновская дифрактометрия

Рентгеновская дифракция все 9 позиций

Дифрактометр для контроля качества в полупроводниковой промышленности Bruker D8 FABLINE

Измерительная система для полупроводниковой промышленности

blaaa

Дифрактометр для нанотехнологий Bruker D8 DISCOVER

Передовая рентгенодифракционная система для материаловедения

blaaa

Дифрактометр для определения ориентации кристалла Bruker D2 CRYSO (снято с производства)

Инструмент для определения ориентации кристаллической решетки

blaaa

 

Рентгеноструктурный анализ все 4 позиции

Cистема с лучом закрытого типа для рентгеновского определения структуры Bruker SMART X2S

Полностью автоматизированное определение 3-мерной структуры

blaaa

Микрофокусный источник рентгеновского излучения Bruker MICROSTAR

Новые стандарты в интенсивности излучения, экономичности, простоте в использовании и надежности

blaaa

Стандарт качества для рентгеноструктурного анализа Bruker D8 QUEST

Стандарт качества для рентгеноструктурного анализа

blaaa