В корзине пусто

Тел./факс:

Новости

09.10.2017 Решения компании Keysight Technologies для тестирования устройств с высокоскоростным интерфейсом Type-C обеспечивают наиболее полную проверку физического уровня на соответствие требованиям стандартов

Новый контроллер для тестирования Type-C позволяет проверять устройства в любом состоянии согласно соответствующим стандартам

Ф

 

События

16.10.2017 Немецкие технологии в вакуумном оборудовании, Новосибирск, 24 октября

Группа компаний "Научное оборудование" приглашает Вас 24 октября принять участие в семинаре «Немецкие технологии в вакуумном оборудовании. LewVac и Leybold», который пройдет в Новосибирском Академгородке в ИФП СО РАН.

Б Ф Х Г

 

Подписка

Подпишитесь на новостную рассылку, чтобы быть всегда в курсе последних событий:

 

Аналитическое рентгеновское оборудование

Рентгеновская дифрактометрия все 13 позиций

Cистема с лучом закрытого типа для рентгеновского определения структуры Bruker SMART X2S

Полностью автоматизированное определение 3-мерной структуры

Дифрактометр для контроля качества в полупроводниковой промышленности Bruker D8 FABLINE

Измерительная система для полупроводниковой промышленности

Дифрактометр для нанотехнологий Bruker D8 DISCOVER

Передовая рентгенодифракционная система для материаловедения

 

Рентгено-флуоресцентные анализаторы все 5 позиций

Портативный РФА-анализатор / детектор золота CFAN EXF6308

Портативный РФА-анализатор для ювелирной промышленности

РФА-анализатор / детектор золота со встроенным компьютером CFAN EXF7800

РФА анализатор / детектор золота со встроенным компьютером

РФА-анализатор / детектор золота со встроенным промышленным компьютером CFAN EXF8000S

РФА анализатор / детектор золота со встроенным промышленным компьютером

 

Системы микроанализа и дифракции для электронной микроскопии все 4 позиции

Cистема анализа дифракции обратного рассеяния электронов Bruker QUANTAX EBSD

Высокотехнологичная и удобная в использовании система анализа дифракции обратного рассеяния электронов

Быстродействие и универсальность дрейфовых кремниевых детекторов для TEM Bruker QUANTAX EDS

Быстродействие и универсальность дрейфовых кремниевых детекторов – для трансмиссионных электронных микроскопов

Точная трехмерная микроскопия для SEM Bruker Micro-CT

Точная трехмерная микроскопия для СЭМ